[发明专利]用于超导交流电压标准的低热电势测试探杆

权利要求书

1.一种用于超导交流电压标准的低热电势测试探杆，其特征在于：所述测试探杆包括转接头、测量转接盒、连接杆和屏蔽筒，所述转接头固定设置于所述测量转接盒的一端，所述测量转接盒的另一端与所述连接杆的上端部固接在一起，所述屏蔽筒与所述连接杆的下端部固定连接在一起； 

所述屏蔽筒内设置有超导阵列结，所述连接杆内设有连接引线，所述的连接引线包括同轴电缆A和同轴电缆B；

所述同轴电缆A上端头的线芯与所述测量转接盒内的电压输出接口低端相连接，所述同轴电缆A下端头的线芯与所述超导阵列结电压输出高端相连接，该同轴电缆A下端头的屏蔽层与所述超导阵列结电压输出低端相连接；

所述同轴电缆B上端头的线芯与所述测量转接盒内的电压输出接口高端相连接，所述同轴电缆B下端头的线芯与该同轴电缆B下端头的屏蔽层短接；

所述同轴电缆A上端头的屏蔽层与所述同轴电缆B上端头的屏蔽层短接在一起。

2.根据权利要求1所述的用于超导交流电压标准的低热电势测试探杆，其特征在于：所述的转接头为微波转接头。

3.根据权利要求1或2所述的用于超导交流电压标准的低热电势测试探杆，其特征在于：所述的同轴电缆A和同轴电缆B均采用低温同轴电缆，该低温同轴电缆的工作温度范围为10mK～400K。

4.根据权利要求3所述的用于超导交流电压标准的低热电势测试探杆，其特征在于：所述同轴电缆A的屏蔽层材质和同轴电缆B屏蔽层材质均为铜镀银。

5.根据权利要求4所述的用于超导交流电压标准的低热电势测试探杆，其特征在于：所述同轴电缆A的线芯直径为0.2033mm，屏蔽层厚度为0.203mm；所述同轴电缆B的线芯直径为0.2033mm，屏蔽层厚度为0.203mm。