[发明专利]分析装置、传感器检查装置及检查方法有效
| 申请号： | 201210023388.8 | 申请日： | 2012-02-02 |
| 公开（公告）号： | CN102628832A | 公开（公告）日： | 2012-08-08 |
| 发明（设计）人： | 关本慎二郎 | 申请（专利权）人： | 爱科来株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/416 | 分类号： | G01N27/416 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 分析装置、传感器检查装置及检查方法。提供了一种传感器检查方法，该传感器检查方法包括以下步骤：在传感器的第一电极与第二电极之间施加第一电压和第二电压中的至少一个，该第一电压获取由物质引起的响应，该第二电压不获取或基本不获取由所述物质引起的响应；测量在所述第一电极与所述第二电极之间流动的电流；以及基于与在施加了所述第一电压和/或所述第二电压时测量的电流的每特定时间的变化量相关的物理量来确定所述传感器中是否存在缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 装置 传感器 检查 方法 | ||
【主权项】：
一种分析装置，该分析装置包括：传感器部，该传感器部包括试剂层、电极和外层膜，所述试剂层包括与样本液体中的物质反应的试剂，所述电极包括用于向所述试剂层施加电压的第一电极和第二电极，所述外层膜用于与所述试剂层进行接触；电压施加单元，该电压施加单元用于在所述第一电极与所述第二电极之间施加第一电压和第二电压中的至少一个，所述第一电压获取由所述物质引起的响应，所述第二电压不获取或基本不获取由所述物质引起的响应；电流测量单元，该电流测量单元用于测量在所述第一电极与所述第二电极之间流动的电流；以及确定单元，该确定单元用于基于第一物理量和第二物理量中的至少一个来确定所述外层膜中是否存在缺陷，所述第一物理量与在施加了所述第一电压时由所述电流测量单元测量出的第一电流的每特定时间的变化量相关，所述第二物理量与在施加了所述第二电压时由所述电流测量单元测量出的第二电流的每特定时间的变化量相关。
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