[发明专利]产品装配尺寸和形位精度的预测方法及装置无效
| 申请号： | 201210016818.3 | 申请日： | 2012-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN102609573A | 公开（公告）日： | 2012-07-25 |
| 发明（设计）人： | 刘检华;宁汝新;刘伟东;蒋科;任水平 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 黄灿;安利霞 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种产品装配尺寸和形位精度的预测方法及装置，其中方法包括：获得产品装配尺寸和形位精度的设计数据和测量数据；将设计数据映射至用六元统计模型表达的六元偏差随机向量，将测量数据映射至用六元统计模型表达的六元偏差确定向量；根据六元偏差随机向量以及六元偏差确定向量，构建产品装配尺寸和形位精度六元偏差统计量模型，并求解模型的均值向量、方差和协方差矩阵；根据六元偏差统计量模型以及产品的装配基准、装配约束，构建产品的装配偏差有向图；并根据装配偏差有向图，实现对产品装配的尺寸和形位精度进行累积；根据产品装配尺寸和形位精度的累积量，对产品的装配精度进行预测。本发明的方案可以使产品的装配精度的分析更加精确。 | ||
| 搜索关键词： | 产品 装配 尺寸 精度 预测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种产品装配尺寸和形位精度的预测方法，其特征在于，包括：获得产品装配尺寸和形位精度的设计数据和测量数据；将所述设计数据映射至用六元统计模型表达的六元偏差随机向量，将所述测量数据映射至用六元统计模型表达的六元偏差确定向量；根据所述六元偏差随机向量以及六元偏差确定向量，构建产品装配尺寸和形位精度的六元偏差统计量模型，并求解模型的均值向量、方差和协方差矩阵；根据所述六元偏差统计量模型以及产品的装配基准、装配约束，构建产品的装配偏差有向图；根据所述装配偏差有向图，对产品装配尺寸和形位精度进行累积；根据所述产品装配尺寸和形位精度的累积量，对产品的装配精度进行预测。
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