[发明专利]一种测试头无效
| 申请号： | 201210005266.6 | 申请日： | 2012-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN103197165A | 公开（公告）日： | 2013-07-10 |
| 发明（设计）人： | 戴志坚;冯良平;宗秋萍 | 申请（专利权）人： | 镇江华坚电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 212133 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于检测射频同轴连接器性能的测试头。现有检测连接器结构复杂，连接环节多，体积较多，成本高等技术问题。本发明一种测试头，其特征在于：包括一个外壳（4），外壳（4）内腔中设置两个绝缘子（2,3），两个绝缘子中间有同心的通孔，通孔中有一根双头的插针（1），插针（1）一头与被测试射频同轴连接器连接，另一头与检测设备连接；外壳（4）外壁套有一个螺套（5），外壳（4）外壁设有一环形凹槽，与之对应螺套（5）内壁设有一环形凹槽，在此内外凹槽间设置一个卡环（6）。本发明结构简单、连接环节少、使用方便，同时由于其对检测过程影响较小，在对射频同轴连接器技术性能进行检测时得到的测试结果与其实际工作技术参数最接近，误差最小。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 | ||
【主权项】：
一种测试头，其特征在于：包括一个外壳（4），外壳（4）内腔中设置两个绝缘子（2,3），两个绝缘子中间有同心的通孔，通孔中有一根双头的插针（1），插针（1）一头与被测试射频同轴连接器连接，另一头与检测设备连接；外壳（4）外壁套有一个螺套（5），外壳（4）外壁设有一环形凹槽，与之对应螺套（5）内壁设有一环形凹槽，在此内外凹槽间设置一个卡环（6）。
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