[发明专利]一种测试头无效
| 申请号： | 201210005266.6 | 申请日： | 2012-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN103197165A | 公开（公告）日： | 2013-07-10 |
| 发明（设计）人： | 戴志坚;冯良平;宗秋萍 | 申请（专利权）人： | 镇江华坚电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 212133 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测试 | ||
【权利要求书】：
1.一种测试头，其特征在于：包括一个外壳（4），外壳（4）内腔中设置两个绝缘子（2,3），两个绝缘子中间有同心的通孔，通孔中有一根双头的插针（1），插针（1）一头与被测试射频同轴连接器连接，另一头与检测设备连接；外壳（4）外壁套有一个螺套（5），外壳（4）外壁设有一环形凹槽，与之对应螺套（5）内壁设有一环形凹槽，在此内外凹槽间设置一个卡环（6）。
2.如权利要求1所述的测试头，其特征在于：插针（1）较细的一端居中位置设有滚花或倒刺。
3.如权利要求1所述的测试头，其特征在于：外壳（4）内壁设有倒刺。
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