[发明专利]一种改善光性能的欧姆接触电极的制造方法无效

专利信息
申请号: 201210001595.3 申请日: 2012-01-05
公开(公告)号: CN102569584A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 杨继远 申请(专利权)人: 杨继远
主分类号: H01L33/38 分类号: H01L33/38;H01L33/40
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100081 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明是一种用接触合金、光高透过率材料ITO及SiO2材料,在半导体材料(如:外延片)表面形成点状(dots)欧姆接触层的制备方法。此方法包括以下步骤:先在半导体材料(如:外延片)表面蒸发点状(dots)接触合金AuBe,经过光刻、蚀刻处理后进行热处理,使过渡金属氧化,随后再在表面蒸发ITO和SiO2,通过光刻、蚀刻技术工艺完成欧姆接触电极的制作。使用本发明可增大半导体器件的发光面积,提高外量子效率。
搜索关键词: 一种 改善 性能 欧姆 接触 电极 制造 方法
【主权项】:
一种改善光性能的欧姆接触电极的制造方法,其特征在于:在外延片表面蒸发薄层的AuBe合金,经过光刻、蚀刻工艺在外延层表面形成点状(dots)欧姆接触层。
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