[发明专利]一种改善光性能的欧姆接触电极的制造方法无效
申请号: | 201210001595.3 | 申请日: | 2012-01-05 |
公开(公告)号: | CN102569584A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 杨继远 | 申请(专利权)人: | 杨继远 |
主分类号: | H01L33/38 | 分类号: | H01L33/38;H01L33/40 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100081 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明是一种用接触合金、光高透过率材料ITO及SiO2材料,在半导体材料(如:外延片)表面形成点状(dots)欧姆接触层的制备方法。此方法包括以下步骤:先在半导体材料(如:外延片)表面蒸发点状(dots)接触合金AuBe,经过光刻、蚀刻处理后进行热处理,使过渡金属氧化,随后再在表面蒸发ITO和SiO2,通过光刻、蚀刻技术工艺完成欧姆接触电极的制作。使用本发明可增大半导体器件的发光面积,提高外量子效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 改善 性能 欧姆 接触 电极 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种改善光性能的欧姆接触电极的制造方法,其特征在于:在外延片表面蒸发薄层的AuBe合金,经过光刻、蚀刻工艺在外延层表面形成点状(dots)欧姆接触层。
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