[发明专利]光电二极管阵列、基准电压决定方法及推荐动作电压决定方法有效
申请号: | 201180072092.9 | 申请日: | 2011-12-05 |
公开(公告)号: | CN103650166A | 公开(公告)日: | 2014-03-19 |
发明(设计)人: | 里健一;镰仓正吾;中村重幸;太田刚;平柳通人;铃木裕树;足立俊介 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | H01L31/107 | 分类号: | H01L31/107;H01L27/146 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 杨琦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供光电二极管阵列、基准电压决定方法及推荐动作电压决定方法。对光电二极管阵列施加反偏电压,该光电二极管阵列具备:以盖格模式动作的多个雪崩光电二极管;及相对于各雪崩光电二极管串联连接的降压电阻。使施加的反偏电压变化而测定电流,并将所测定的电流的变化中的拐点处的反偏电压作为基准电压而决定。将对所决定的基准电压加上规定的值而得到的电压作为推荐动作电压而决定。 | ||
搜索关键词: | 光电二极管 阵列 基准 电压 决定 方法 推荐 动作 | ||
【主权项】:
一种基准电压决定方法,其特征在于,是决定用于决定施加于光电二极管阵列的反偏电压的推荐动作电压的基准电压的基准电压决定方法,所述光电二极管阵列具备:以盖格模式动作的多个雪崩光电二极管;及相对于各个所述雪崩光电二极管串联连接的降压电阻,使施加于所述光电二极管阵列的反偏电压变化而测定电流,并将所测定的电流的变化中的拐点处的反偏电压作为所述基准电压而决定。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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