[发明专利]X射线诊断装置以及X射线诊断用程序有效

专利信息
申请号: 201180070344.4 申请日: 2011-04-22
公开(公告)号: CN103491875A 公开(公告)日: 2014-01-01
发明(设计)人: 长谷川直纪 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;A61B6/06;G06T1/00;G06T5/00;H04N1/409
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: X射线诊断装置具备:峰值频率检测部,其对被拍进图像的上述栅格的莫尔条纹的第一高次谐波的峰值频率进行检测;第一和第二高次谐波去除处理部,其基于第一高次谐波的峰值频率从图像去除莫尔条纹的第一高次谐波和第二高次谐波来获取第一和第二高次谐波去除图像;第三高次谐波提取滤波器制作部,其基于第一高次谐波的峰值频率计算莫尔条纹的第三高次谐波的峰值频率,制作用于提取第三高次谐波的第三高次谐波提取滤波器;第三高次谐波提取部,其基于第三高次谐波提取滤波器从第一和第二高次谐波去除图像提取第三高次谐波;以及第三高次谐波减去部,其从第一和第二高次谐波去除图像减去所提取出的第三高次谐波来获取第三高次谐波去除图像。
搜索关键词: 射线 诊断 装置 以及 程序
【主权项】:
一种X射线诊断装置,具备X射线照射部、X射线检测器以及栅格,并基于上述X射线检测器的输出来获取图像,其中,该X射线照射部对被检体照射X射线,该X射线检测器检测透过被检体的X射线,该栅格被配置在上述X射线检测器的X射线入射侧,去除发生散射的X射线,该X射线诊断装置的特征在于,还具备:峰值频率检测部,其对被拍进上述图像的上述栅格的莫尔条纹的第一高次谐波的峰值频率进行检测;第一和第二高次谐波去除处理部,其基于上述第一高次谐波的峰值频率从上述图像去除莫尔条纹的第一高次谐波和第二高次谐波,来获取第一和第二高次谐波去除图像;第三高次谐波提取滤波器制作部,其基于上述第一高次谐波的峰值频率计算莫尔条纹的第三高次谐波的峰值频率,制作用于提取上述第三高次谐波的第三高次谐波提取滤波器;第三高次谐波提取部,其基于上述第三高次谐波提取滤波器从上述第一和第二高次谐波去除图像提取上述第三高次谐波;以及第三高次谐波减去部,其从上述第一和第二高次谐波去除图像减去所提取出的上述第三高次谐波来获取第三高次谐波去除图像。
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