[发明专利]X射线诊断装置以及X射线诊断用程序

说明书

技术领域

本发明涉及一种去除被拍进X射线图像的栅格的莫尔条纹的X射线诊断装置以及X射线诊断用程序。

背景技术

如图11所示，以往的X射线诊断装置具备：X射线管103，其对被检体M照射X射线；X射线检测器(例如平板型X射线检测器(FPD))104，其检测透过被检体M的X射线；以及散射线去除栅格(以下简称为“栅格”)105，其被设置在X射线检测器104的X射线入射侧，去除在透过被检体M时等发生散射的X射线。吸收X射线的吸收体(例如铅)与透过X射线的透过体(例如铝、空气)交替地配设来构成栅格105。由于散射而从倾斜方向入射的X射线被该栅格105的吸收体吸收，仅透过透过体的X射线被X射线检测器104所检测。由此，能够获得清晰的图像。

然而，在以往的X射线诊断装置101中，由于X射线检测器104的分辨率与栅格105的密度的差异而存在在所获取到的图像中拍进了栅格105的莫尔条纹的问题。关于该栅格105的莫尔条纹的对策，提出了各种提案(例如参照专利文献1)。

另外，在图11所示的以往的X射线诊断装置101中，具备莫尔条纹去除处理部121，来去除被拍进图像的栅格105的莫尔条纹的第一高次谐波和第二高次谐波。首先，对拍进了莫尔条纹的图像进行一维傅立叶变换，根据其傅立叶变换结果来检测表示莫尔条纹的第一高次谐波的峰值频率。第二高次谐波是第一高次谐波的2倍(整数倍)，因此能够利用第一高次谐波的峰值频率计算出该第二高次谐波的峰值频率。基于获取到的第一高次谐波和第二高次谐波的峰值频率来制作用于提取莫尔条纹的第一高次谐波和第二高次谐波的滤波器，使用该滤波器提取第一高次谐波和第二高次谐波。然后，通过从拍进了莫尔条纹的图像减去第一高次谐波和第二高次谐波来去除莫尔条纹的第一高次谐波和第二高次谐波。

此外，能够用奈奎斯特频率Ny来表示X射线检测器104的分辨率。奈奎斯特频率Ny表示能够以像素间距δ(mm)进行采样的空间频率的临界。根据下面的式(1)来求出奈奎斯特频率Ny。

Ny=1/(2×δ)…(1)

例如，当设为以像素间距δ为150um来构成X射线检测器104时，奈奎斯特频率Ny为Ny=1/(2×0.15)=3.33…lp/mm。即X射线检测器104的分辨率是3.33...lp/mm。此外，下面将X射线检测器104的分辨率适当地简记为“3.33lp/m m”。

另外，例如以50line/cm来构成栅格105的密度。该50line/cm也被表示为5line/mm、5lp/mm等。在栅格105的情况下，“line/cm”、“lp/mm”等示出每单位长度(1cm、1mm)的吸收体的个数、吸收体和透过体的组合的个数(50、5)。在使用分辨率为3.33lp/mm的X射线检测器和密度为5lp/mm(50line/cm)的栅格的情况下，关于栅格(5lp/mm)的莫尔条纹，在3.33lp/mm处折返而在1.67lp/mm的位置处产生。即，在3.33...lp/mm-(5lp/mm-3.33...lp/mm)=1.67(1.666...)lp/mm的位置处出现栅格的莫尔条纹的第一高次谐波(图12)。

专利文献1：日本特开2002-152467号公报

发明内容

发明要解决的问题

然而，在具有这种结构的以往的X射线诊断装置101中存在如下问题。即，存在以下问题：即使利用莫尔条纹去除处理部121从拍进了栅格105的莫尔条纹的图像去除莫尔条纹，在去除后的图像中也存在莫尔条纹残余。

本发明是鉴于上述情况而完成的，其目的在于提供一种去除莫尔条纹去除图像中残余的莫尔条纹的X射线诊断装置以及X射线诊断用程序。

用于解决问题的方案