[发明专利]接触检查用工具有效

专利信息
申请号: 201180057125.2 申请日: 2011-11-16
公开(公告)号: CN103238077A 公开(公告)日: 2013-08-07
发明(设计)人: 富冈宏之 申请(专利权)人: 株式会社精研
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067;G01R1/073;G01R31/26
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李洋;苏琳琳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 由于引导探针的柱塞的引导孔需要烦琐的孔加工,所以很难对应端子或电极的窄间距化以及多极化。在形成于上侧块(10)以及下侧块(11)的圆筒状的保持孔(12、15)安装探针(2)。探针的柱塞(6)具有板状的引导部(19a)和其前端的接触部(19b)。在上侧块(10)上从下方形成有有底的保持孔(12),并且从上表面(s)形成有引导槽(13)。在该引导槽(13),所述引导部(19a)止转并且以可防脱地上下移动的方式被引导。
搜索关键词: 接触 检查 用工
【主权项】:
一种接触检查用工具,其具备与被检查电子部件的端子或电极接触的探针和保持该探针的插座,用于检查所述被检查电子部件的电特性,其特征在于,所述探针具有柱塞,该柱塞以与所述端子或电极弹性接触的方式被施力,该柱塞具有:将其前端部切除了侧面而成的板状的引导部、和突尖状地形成于该引导部的前端的接触部,所述插座至少具备位于所述端子或电极侧的第一块,在该第一块上从其表面形成规定深度的引导槽,在该引导槽中,所述柱塞的引导部止转并以可沿该柱塞的轴向移动且防脱的方式被引导。
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