[发明专利]用于通过X射线计算机断层扫描装置确定位于待检查物体中的结构位置的方法和评估设备

摘要

在用于通过X射线计算机断层扫描装置确定位于待调查的物体中的结构位置的方法和评估设备中，从物体的体数据记录确定对切割平面中的物体进行成像的切割数据记录。二值化切割数据记录以形成二进制数据记录，在其中，确定对结构进行成像的结构体素（s）和对物体表面进行成像的表面体素（f）。为了确定所述位置，以如下方式产生距离数据记录（A）：将表征从所述表面体素（f）到各个距离体素（a）的最小距离的距离值（w）分配到距离数据记录（A）的各个距离体素（a）。然后确定对应于结构体素（s）的距离体素（a）并评估相关联的距离值（w）。通过确定距离值（w）的最小值，例如可确定从活塞表面到冷却通道的最小距离。

主权项

一种方法，用于通过X射线计算机断层扫描装置确定位于待调查物体中的结构位置，该方法包括步骤：‑提供通过X射线计算机断层扫描装置确定的待调查物体（5）的体数据记录，‑定义穿过位于所述物体（5）中并关于其空间位置待确定的结构（20）的切割平面（S1），‑从所述体数据记录确定切割数据记录，所述切割数据记录对所述切割平面（S1）中的所述物体（5）进行成像，‑二值化所述切割数据记录以形成二进制数据记录，‑在所述二进制数据记录中确定对所述结构（20）进行成像的结构体素（s），‑在所述二进制数据记录中确定对所述物体（5）的物体表面进行成像的表面体素（f），‑以如下方式确定距离数据记录（A）：将表征从所述表面体素（f）到各个距离体素（a）的最小距离的距离值（w）分配给所述距离数据记录（A）的每个距离体素（a）,‑确定对应于在所述距离数据记录（A）中的所述结构体素（s）的所述距离体素（a），以及‑评估对应于所述结构体素（s）的所述距离体素（a）的所述距离值（w）。