[发明专利]用于通过X射线计算机断层扫描装置确定位于待检查物体中的结构位置的方法和评估设备

权利要求书

1.一种方法，用于通过X射线计算机断层扫描装置确定位于待调查物体中的结构位置，该方法包括步骤：

-提供通过X射线计算机断层扫描装置确定的待调查物体（5）的体数据记录，

-定义穿过位于所述物体（5）中并关于其空间位置待确定的结构（20）的切割平面（S₁），

-从所述体数据记录确定切割数据记录，所述切割数据记录对所述切割平面（S₁）中的所述物体（5）进行成像，

-二值化所述切割数据记录以形成二进制数据记录，

-在所述二进制数据记录中确定对所述结构（20）进行成像的结构体素（s），

-在所述二进制数据记录中确定对所述物体（5）的物体表面进行成像的表面体素（f），

-以如下方式确定距离数据记录（A）：将表征从所述表面体素（f）到各个距离体素（a）的最小距离的距离值（w）分配给所述距离数据记录（A）的每个距离体素（a）,

-确定对应于在所述距离数据记录（A）中的所述结构体素（s）的所述距离体素（a），以及

-评估对应于所述结构体素（s）的所述距离体素（a）的所述距离值（w）。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述距离数据记录（A）的确定之前，以如下方式对至少一个所述数据记录进行变换，其中将至少一些所述表面体素（f）平行于笛卡尔坐标系（K）的坐标轴（u，v，w）对齐。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，通过以下步骤变换所述体数据记录：

-二值化所述体数据记录以形成二进制体数据记录，

-定义穿过所述物体（5）的两个交叉校正切割平面（S₁，S₂），

-从所述二进制体数据记录确定两个校正切割数据记录，所述校正切割数据记录在各自的切割平面（S₁，S₂）中对所述物体（5）进行成像，

-从所述校正切割数据记录确定两个倾斜角（α），每个倾斜角（α）表征相对于笛卡尔坐标系（K）的坐标轴（u，v，w）对物体表面进行成像的所述表面体素（f）的位置，以及

-通过所确定的倾斜角（α）以如下方式变换所述体数据记录，其中用于确定所述倾斜角（α）的所述表面体素（f）在各种情况下平行于所述坐标轴（u，v，w）中的一个。

4.根据权利要求1至3中的任一项所述的方法，其特征在于，所述切割数据记录的二值化以如下方式进行：

-在所述切割数据记录中确定对所述物体（5）的边缘进行成像的边缘体素，

-在所述切割数据记录中借助于为每个体素确定的所述边缘体素，确定通过具有所述边缘的所述体素的多个不同对齐的直线（G₁至G₈）的交点数目，以及

-在所述二进制数据记录中的各个体素：

--当大多数所述直线（G₁至G₈）具有奇数个交点时，被分配给所述物体（5），以及

--当大多数所述直线（G₁至G₈）具有偶数个交点时，不分配给所述物体（5）。

5.根据权利要求1至4中的任一项所述的方法，其特征在于，在所述二进制数据记录中的所述结构体素（s）的确定以如下方式进行：

-在各种情况下，将具有均匀二进制值的连接体素分配给区域，

-关于至少一种性质评估所述区域，以及，

-将所述区域中的一个归类为具有相关联的结构体素（s）的所述结构（20）。

6.根据权利要求1至5中的任一项所述的方法，其特征在于，产生结构二进制数据记录，在其中所述结构体素（s）具有第一二进制值，而所有另外的体素具有第二二进制值。

7.根据权利要求1至6中的任一项所述的方法，其特征在于，在所述二进制数据记录中的所述表面体素（f）的确定以如下方式进行：

-所述体素在一个行进方向上穿过，特别以行和/或线，以及

-在各种情况下，当被分配给所述物体（5）时，将在行进方向上的穿过期间首先被检测到的所述体素确定为表面体素（f）。