[发明专利]时域光谱学中用于增加测量精度的连续参考有效

专利信息
申请号: 201180051124.7 申请日: 2011-08-19
公开(公告)号: CN103189722A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: P.穆萨维;S.多奇;F.M.黑兰;S.萨瓦德;D.耶斯;S.J.希思 申请(专利权)人: 霍尼韦尔阿斯卡公司
主分类号: G01J3/42 分类号: G01J3/42;G01J3/28
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 蒋骏;李浩
地址: 加拿大*** 国省代码: 加拿大;CA
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摘要: 一种用于结合到时域光谱学系统中的装置,其创建连续参考,由此可以追踪和校正样本脉冲的相位和幅值,采用射束分裂器来生成样本和辐射脉冲。检测器被放置以用于接收与样本不相互作用的参考辐射脉冲。相同的检测器还被放置以用于接收从样本出现的样本辐射脉冲。该装置可以通过在太赫时域光谱仪的发射器和检测器之间进行配置来容易地实现。参考脉冲被用来追踪样本脉冲的时间和幅值中的改变。因为参考脉冲中的任何改变将最可能表现在样本脉冲中,所以参考脉冲被监测并被用来校正样本脉冲,并由此减少抖动的影响。
搜索关键词: 时域 光谱 用于 增加 测量 精度 连续 参考
【主权项】:
一种具有用于测量样本的至少一个属性的连续参考的装置,其包括:辐射源(4),其生成辐射脉冲(20);用于分裂辐射脉冲(8)以产生参考辐射脉冲(22)和样本辐射脉冲(24)的装置,其中所述样本辐射脉冲(24)被引导到样本(14);以及检测器(6),被放置以用于接收所述参考辐射脉冲(22),其中所述参考辐射脉冲(22)与所述样本(14)不相互作用,以及其中所述检测器(6)被放置以用于接收从所述样本出现的所述样本辐射脉冲(24)。
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