[发明专利]时域光谱学中用于增加测量精度的连续参考

权利要求书

1.一种具有用于测量样本的至少一个属性的连续参考的装置，其包括：

辐射源（4），其生成辐射脉冲（20）；

用于分裂辐射脉冲（8）以产生参考辐射脉冲（22）和样本辐射脉冲（24）的装置，其中所述样本辐射脉冲（24）被引导到样本（14）；以及

检测器（6），被放置以用于接收所述参考辐射脉冲（22），其中所述参考辐射脉冲（22）与所述样本（14）不相互作用，以及其中所述检测器（6）被放置以用于接收从所述样本出现的所述样本辐射脉冲（24）。

2.权利要求1的装置，其中所述样本辐射脉冲从所述样本（14）反射。

3.权利要求1的装置，进一步包括第一反射镜（12），其被放置成反射经过所述样本（14）透射的样本辐射脉冲（24）。

4.权利要求3的装置，进一步包括第二反射镜（10），其被放置成将所述参考辐射脉冲（22）反射到单个检测器（6）。

5.权利要求1的装置，其中来自用于分裂辐射脉冲（8）的装置的所述参考和样本脉冲（22,24）在时间上被分离，使得所述参考脉冲（22）在相对于所述样本脉冲（24）的不同时间到达所述检测器（6）。

6.一种具有用于测量样本的至少一个属性的连续参考的时域光谱学装置（100），其包括：

发射器（4），其生成辐射脉冲（20）；

用于分裂辐射脉冲（8）以产生参考辐射脉冲（22）和样本辐射脉冲（24）的装置，其中所述样本辐射脉冲（24）被引导到样本（14），并且其中所述参考辐射脉冲（22）与所述样本（14）不相互作用；

第一反射镜（12），被放置成反射已经经过所述样本透射或从所述样本反射的样本辐射脉冲（24）；

第二反射镜（10），被放置成反射所述参考辐射脉冲（22）；以及

检测器（6），被放置以用于接收所反射的参考辐射脉冲（22）和所反射的样本辐射脉冲（24）。

7.权利要求6的时域光谱学装置，还包括用于基于对所述参考辐射脉冲的检测来校正时间抖动的装置（125）。

8.权利要求6的时域光谱学装置，还包括用于基于对所述参考辐射脉冲的检测来校正幅值变化的装置（125）。

9.一种改善时域光谱学装置（100）的精度的方法，所述装置包括生成辐射脉冲的发射器（4）和接收从样本（14）出现的辐射脉冲（24）的检测器（6），所述方法包括以下步骤：

沿着在所述发射器（4）和所述检测器（6）之间的光路放置射束分裂器（8），以形成参考辐射脉冲（22）和被引导到所述样本（14）的样本辐射脉冲（24），并且所述参考辐射脉冲（22）与所述样本（14）不相互作用；

放置第一反射镜（12）以将样本辐射脉冲反射到所述检测器（6）；以及

放置第二反射镜（10）以将参考辐射脉冲（22）反射到所述检测器，并使用所反射的辐射脉冲来监测所述参考辐射脉冲的相位和幅值中的波动。

10.权利要求9的方法，其中使用单个检测器（6）来测量所述参考和样本脉冲（22,24）。