[发明专利]重置光导X射线成像检测器的系统和方法有效
| 申请号： | 201180044047.2 | 申请日： | 2011-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN103119929A | 公开（公告）日： | 2013-05-22 |
| 发明（设计）人： | 约翰·罗兰兹;吉奥万尼·德克雷森佐;钱德拉·波克雷尔;阿拉·莱兹尼克 | 申请（专利权）人： | 雷湾地区研究所 |
| 主分类号： | H04N5/32 | 分类号： | H04N5/32;G01T1/29;H01L31/08;A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 余朦;杨莘 |
| 地址： | 加拿大*** | 国省代码： | 加拿大;CA |
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| 摘要： | 本发明提供了重置阻挡型光导成像检测器的系统和方法。在一个实施方式中，在获取图像之后，可通过施加反向偏置电压差并通过光激发辐射照亮成像辐射检测器来重置成像检测器。光激发辐射具有被选择为激发光导层内的移动电荷的波长和以空间补偿方式与用于中和被捕获电荷的测量图像关联的空间强度分布。在另一个实施方式中，光致电离光束被引导至具有与光导层接触的液晶层的x射线光阀上。该光束穿过x射线光阀的光学透射的表面并使液晶层内的物种光致电离，从而生成至少部分中和接触面处捕获的电荷的移动带电实体，从而改善了x射线光阀在执行后续x射线成像时的表现。 | ||
| 搜索关键词： | 重置 射线 成像 检测器 系统 方法 | ||
【主权项】：
从x射线光阀成像装置擦除残留图像的方法，所述x射线光阀成像装置包括光电调制器层和光导层，所述方法包括以下步骤：提供用于生成光致电离辐射的光致电离辐射源，所述光致电离辐射具有适于使所述x射线光阀成像装置的光电调制器层内的物种光致电离的波长；以及将所述光致电离辐射引导至所述光电调制器层内并使所述光电调制器层内的物种光致电离；其中所述光致电离辐射的积分通量被选择为生成足够浓度的移动电荷实体以减小位于所述光导层的接触面处或接触面附近的被捕获电荷的影响。
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