[发明专利]阵列天线的校正装置以及校正方法有效
| 申请号： | 201180037862.6 | 申请日： | 2011-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN103052888A | 公开（公告）日： | 2013-04-17 |
| 发明（设计）人： | 小石洋一 | 申请（专利权）人： | 日本电气株式会社 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01R35/00;H01Q3/26 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 齐秀凤 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 为了进行使阵列天线的各系统与环境的状态变化对应的高精度的校正，校正装置(20A)校正搭载于卫星等上的阵列天线，校正装置(20A)具备：校正系数计算构件21，其计算出对阵列天线(11)所接收到的信号进行规定的信号处理而得到的多个输入信号(Xi(t，P))的相关，来计算出用于校正阵列天线的系统的权重系数(βW)；和校正执行构件(27)，其基于权重系数(βW)来校正阵列天线的系统。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 天线 校正 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种校正装置，校正配置于宇宙空间的阵列天线，其特征在于，具备：校正系数计算构件，其接受对通过所述阵列天线接收到的信号按每个系统进行了规定的信号处理而得到的多个输入信号，计算出该多个输入信号的相关，并计算出用于校正所述阵列天线的权重系数；和校正执行构件，其基于所述权重系数来校正所述阵列天线。
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