[发明专利]阵列天线的校正装置以及校正方法有效

专利信息
申请号: 201180037862.6 申请日: 2011-07-22
公开(公告)号: CN103052888A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 小石洋一 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;G01R35/00;H01Q3/26
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 齐秀凤
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 阵列 天线 校正 装置 以及 方法
【权利要求书】:

1.一种校正装置,校正配置于宇宙空间的阵列天线,其特征在于,具备:

校正系数计算构件,其接受对通过所述阵列天线接收到的信号按每个系统进行了规定的信号处理而得到的多个输入信号,计算出该多个输入信号的相关,并计算出用于校正所述阵列天线的权重系数;和

校正执行构件,其基于所述权重系数来校正所述阵列天线。

2.根据权利要求1所述的校正装置,其特征在于,

所述校正系数计算构件具备:

相关矩阵计算部,其计算出所述输入信号的相关矩阵;

本征值计算部,其计算出由所述相关矩阵计算部计算出的相关矩阵的最大本征值;

本征矢量计算部,其计算出所述最大本征值的本征矢量;和

权重系数计算部,其按照所述本征矢量的范数成为1的方式来计算出比例系数,将该比例系数与所述本征矢量的积作为权重系数而输出。

3.根据权利要求2所述的校正装置,其特征在于,

所述校正装置还具备:特性变化判断部,其判断所述校正装置内的电子设备是否由于干扰而发生了特性变动。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的校正装置,其特征在于,

所述校正系数计算构件搭载于卫星。

5.根据权利要求1~3中任一项所述的校正装置,其特征在于,

所述校正系数计算构件设置于地上基地,从所述卫星接收所述输入信号,基于该输入信号计算出所述权重系数并发送给卫星。

6.根据权利要求1~5中任一项所述的校正装置,其特征在于,

所述多个输入信号分开利用输入到数字波束形成(DBF)部的各系统的信号。

7.一种校正方法,用于校正配置于宇宙空间的阵列天线,其特征在于,具备:

校正系数计算步骤,接受对通过所述阵列天线接收到的信号按每个系统进行了规定的信号处理而得到的多个输入信号,计算出该多个输入信号的相关,并计算出用于校正所述阵列天线的系统的权重系数;和

校正执行步骤,基于所述权重系数来校正所述阵列天线。

8.根据权利要求7所述的校正方法,其特征在于,

所述校正方法包括:特性变化判断步骤,判断电子设备是否由于干扰而发生了特性变动。

9.根据权利要求7或8所述的校正方法,其特征在于,

所述校正系数计算步骤包含:

相关矩阵计算步骤,计算出所述输入信号的相关矩阵;

本征值计算步骤,计算出由所述相关矩阵计算步骤计算出的所述相关矩阵的最大本征值;

本征矢量计算步骤,计算出所述最大本征值的本征矢量;和

权重系数计算步骤,按照所述本征矢量的范数成为1的方式来计算出比例系数,将该比例系数与所述本征矢量的积作为权重系数而输出。

10.根据权利要求7~9中任一项所述的校正方法,其特征在于,

所述校正系数计算步骤包含:

将所述输入信号发送给地上基地的步骤;和

将在地上基地计算出的权重系数发送给卫星的步骤。

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