[发明专利]使用欠采样线圈数据来估计线圈灵敏度的并行磁共振成像无效
申请号: | 201180032813.3 | 申请日: | 2011-06-22 |
公开(公告)号: | CN102959426A | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
发明(设计)人: | F·黄;M·多内瓦;P·博尔纳特;J·塞内加 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R33/561 | 分类号: | G01R33/561 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;刘炳胜 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 一种计算机程序产品(1344,1346,1348)包含用于执行采集磁共振图像(1342)的方法的机器可执行指令,所述方法包括步骤:使用线圈阵列(1314)来采集(100,200,300)成像体积(1304)的线圈阵列数据的集合(1334),其中所述线圈阵列数据的集合包括针对所述线圈阵列的每个天线元件(1316)所采集的线圈元件数据;用体线圈(1318)来采集(102,202,302)所述成像体积的体线圈数据(1336),其中对所述体线圈数据和/或所述阵列线圈数据子采样;使用所述线圈阵列数据的集合和所述体线圈数据来重建(104,204,206,304,306,308)线圈灵敏度图的集合(1338),其中具有针对所述线圈阵列的每个天线元件的线圈灵敏度图;使用并行成像方法(1332)来采集(106,208,310)所述成像体积的磁共振成像数据(1340);以及使用所述磁共振成像数据和所述线圈灵敏度图的集合来重建(108,210,312)所述磁共振图像。 | ||
搜索关键词: | 使用 采样 线圈 数据 估计 灵敏度 并行 磁共振 成像 | ||
【主权项】:
一种计算机程序产品(1344,1346,1348),包括用于执行采集磁共振图像(1342)的方法的机器可执行指令,所述方法包括步骤:‑使用线圈阵列(1314)采集(100,200,300)成像体积(1304)的线圈阵列数据的集合(1334),其中,所述线圈阵列数据的集合包括针对所述线圈阵列的每个天线元件(1316)采集的线圈元件数据;‑用体线圈(1318)采集(102,202,302)所述成像体积的体线圈数据(1336),其中,对所述体线圈数据和/或所述阵列线圈数据子采样;‑使用所述线圈阵列数据的集合和所述体线圈数据重建(104,204,206,304,306,308)线圈灵敏度图的集合(1338),其中,具有针对所述线圈阵列的每个天线元件的线圈灵敏度图;‑使用并行成像方法(1332)来采集(106,208,310)所述成像体积的磁共振成像数据(1340);以及‑使用所述磁共振成像数据和所述线圈灵敏度图的集合重建(108,210,312)所述磁共振图像。
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