[发明专利]使用欠采样线圈数据来估计线圈灵敏度的并行磁共振成像

权利要求书

1.一种计算机程序产品（1344,1346,1348），包括用于执行采集磁共振图像（1342）的方法的机器可执行指令，所述方法包括步骤：

-使用线圈阵列（1314）采集（100,200,300）成像体积（1304）的线圈阵列数据的集合（1334），其中，所述线圈阵列数据的集合包括针对所述线圈阵列的每个天线元件（1316）采集的线圈元件数据；

-用体线圈（1318）采集（102,202,302）所述成像体积的体线圈数据（1336），其中，对所述体线圈数据和/或所述阵列线圈数据子采样；

-使用所述线圈阵列数据的集合和所述体线圈数据重建（104,204,206,304,306,308）线圈灵敏度图的集合（1338），其中，具有针对所述线圈阵列的每个天线元件的线圈灵敏度图；

-使用并行成像方法（1332）来采集（106,208,310）所述成像体积的磁共振成像数据（1340）；以及

-使用所述磁共振成像数据和所述线圈灵敏度图的集合重建（108,210,312）所述磁共振图像。

2.如权利要求1所述的计算机程序产品，其中，通过在k-空间中欠采样来对体线圈数据的集合子采样。

3.如权利要求1或2所述的计算机程序产品，其中，通过在k-空间中欠采样来对所述线圈阵列数据的集合子采样。

4.如权利要求1、2或3所述的计算机程序产品，其中，在k-空间中对所述线圈元件数据和所述体线圈数据两者欠采样并且对所述线圈元件数据和所述体线圈数据两者欠采样到不同程度。

5.如权利要求2至4中的任一项所述的计算机程序产品，其中，所述体线圈的k-空间的欠采样在k-空间中是非均匀分布的。

6.如前述权利要求中任一项所述的计算机程序产品，其中，所述子采样包括针对低于预定阈值的k值对k-空间采样。

7.如前述权利要求中任一项所述的计算机程序产品，其中，使用正则化技术来重建所述线圈灵敏度图的集合。

8.如权利要求7所述的计算机程序产品，其中，对所述线圈阵列数据的集合的子集执行所述正则化，其中，通过将来自所述线圈阵列的物理上邻近的天线元件的线圈元件数据分组来确定所述子集。

9.如前述权利要求中任一项所述的计算机程序产品，其中，通过使用所述体线圈从中心核（402）采集k-空间数据来对所述体线圈数据的所述k-空间欠采样。

10.如权利要求9所述的计算机程序产品，其中，使用非线性估计来联合估计所述线圈灵敏度图的集合和复合图像。

11.如权利要求10所述的计算机程序产品，其中，所述方法还包括步骤：

-使用来自所述中心核的所述k-空间数据来计算（304）所述线圈阵列的每个所述天线元件的权重因子的集合；

-通过给线圈阵列图像的集合的每个图像应用所述权重因子的集合而计算（306）所述复合图像，其中，从所述线圈阵列数据的集合重建所述线圈阵列图像的集合；并且

其中，使用所述复合图像和所述线圈阵列数据的集合来计算所述线圈灵敏度图的集合。

12.如前述权利要求中任一项所述的计算机程序产品，其中，所述并行成像方法是以下中的任一个：SENSE、PARS、以及空间谐波的同时采集、或者GRAPPA。

13.如前述权利要求中任一项所述的计算机程序产品，其中，使用以下中的任一个来执行对所述k-空间的欠采样：预定采样图样、随机采样图样、通过对由泊松圆盘分布而确定的k-空间元素（404）采样、以及通过对低于预定k值的k-空间的核（402）进行完全采样并且对高于所述k值的进行稀疏采样。