[发明专利]电致发光样本分析装置

摘要

本发明提供了一种用于分析电致发光样本的装置，所述装置包括：脉冲发生器，所述脉冲发生器用于将脉冲驱动信号施加到电致发光样本；电致发光检测器，所述电致发光检测器用于接收根据脉冲驱动信号的施加而从电致发光样本发射的电致发光，由此获得光接收信号；温度控制器，所述温度控制器用于改变电致发光样本的温度；以及电致发光瞬态光谱分析单元，所述电致发光瞬态光谱分析单元用于分析光接收信号的根据电致发光样本的温度变化而被延迟的时分部分的变化，并获得与在电致发光样本中存在的缺陷型电荷陷阱有关的信息。

主权项

一种分析电致发光样本的装置，包括：脉冲发生器，所述脉冲发生器被配置为将脉冲驱动信号施加到所述电致发光样本；电致发光检测器，所述电致发光检测器被配置为通过接收由于所述脉冲驱动信号的施加而从所述电致发光样本发射的电致发光来获得光接收信号；温度控制器，所述温度控制器被配置为改变所述电致发光样本的温度；以及电致发光瞬态光谱分析单元，所述电致发光瞬态光谱分析单元被配置为通过分析所述光接收信号的瞬态部分根据所述电致发光样本的温度变化的变化来获得与在所述电致发光样本中存在的缺陷电荷陷阱有关的信息。