[发明专利]用于通过x射线束的散射来分析样品的光学设备及相关的准直设备和准直仪有效
| 申请号： | 201180021391.X | 申请日： | 2011-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN102971801A | 公开（公告）日： | 2013-03-13 |
| 发明（设计）人： | 奥利维耶·塔谢;奥利维耶·斯帕拉 | 申请（专利权）人： | 原子能与替代能源委员会 |
| 主分类号： | G21K1/02 | 分类号： | G21K1/02;G21K1/06 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 杨生平;钟锦舜 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于X射线束的准直设备、用于通过X射线束的散射来分析样品(105)的光学设备以及用于X射线束的准直仪。该准直设备包括意图在真空或受控气氛下的外壳(110)，该外壳(110)具有用于射束的入口(120)和出口(121)及由具有衍射周期性结构的材料制成的至少一个板(104)，所述板(104)具有两个主面(104a，104b)和在所述面之间的至少一个加宽的孔(104c)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 通过 射线 散射 分析 样品 光学 设备 相关 准直仪 | ||
【主权项】：
一种用于X射线束的准直设备，其特征在于其包括意图被放置在真空或受控气氛下的外壳(110)，该外壳(110)包括用于射束的入口(120)和出口(121)以及由具有衍射周期性结构的材料制成的至少一个板(104)，所述板(104)包括两个主面(104a，104b)和在所述面之间加宽的至少一个孔(104c)。
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