[发明专利]集成电路电流测定用装置及集成电路电流测定用适配器有效

专利信息
申请号: 201180002931.X 申请日: 2011-04-19
公开(公告)号: CN102472792B 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 中山武司;齐藤义行;石井雅博;石野公一;石丸幸宏 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/20
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 陈萍;高迪
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种集成电路电流测定用装置,安装在IC与基板之间,将IC的各个端子分别与对应的基板的各个端子电连接,特别是对于成为测定对象的IC的端子,在IC的端子与对应的基板的端子之间的电连接路径上内插入电阻。并且,该集成电路电流测定用装置具有对于内插的各个电阻用来测定其两端的电位差的端子。因此,测定流过IC的端子的电流的测定者将该IC电流测定用装置安装在测定对象的IC与基板之间,对与想要测定的IC的端子对应的内插电阻的两端的电位差进行计测,从而能够测定流过IC的端子的电流。
搜索关键词: 集成电路 电流 测定 装置 适配器
【主权项】:
一种集成电路电流测定用装置,其特征在于,用来测定流过集成电路的端子的电流,被安装在该集成电路与基板之间,具备:多个集成电路侧端子,用来与上述集成电路的多个端子分别连接;多个基板侧端子,用来与上述基板的多个端子分别连接,并分别与对应的集成电路侧端子电连接;第1元件,根据在集成电路侧第1端子与对应于该集成电路侧第1端子的基板侧端子之间流过的电流而产生电位差;第2元件,根据在集成电路侧第2端子与对应于该集成电路侧第2端子的基板侧端子之间流过的电流而产生电位差;第1引出端子,用来将上述第1元件所产生的电位差向外部输出;以及第2引出端子,用来将上述第2元件所产生的电位差向外部输出。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201180002931.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top