[实用新型]一种芯片烧录测试装置

摘要

本实用新型适用于芯片烧录测试领域，提供了一种芯片烧录测试装置，所述烧录测试装置包括：使芯片利用重力向下滑动的倾斜的芯片滑动导轨，按滑动导轨方向依次设置的第一顶针、第一光耦、第二顶针、第二光耦、第三顶针，所述第一顶针、第二顶针、第三顶针分别对应连接有第一电磁铁、第二电磁铁、第三电磁铁，在所述第二顶针与第二光耦之间，在芯片滑动导轨两侧分别设置有带左烧录测试夹具的左直线滑动导轨以及带右烧录测试夹具的右直线滑动导轨。本芯片烧录测试装置通过芯片滑动导轨以及各器件的配合自动完成烧录测试，从而避免了芯片烧录测试过程中的人工操作，不仅提高了芯片烧录测试速度，而且避免出现错误操作。

主权项

一种芯片烧录测试装置，其特征在于，所述烧录测试装置包括：使芯片利用重力向下滑动的倾斜的芯片滑动导轨，按滑动导轨方向依次设置的第一顶针、第一光耦、第二顶针、第二光耦以及第三顶针，所述第一顶针、第二顶针、第三顶针分别对应连接有第一电磁铁、第二电磁铁、第三电磁铁，在所述第二顶针与第二光耦之间，在芯片滑动导轨两侧分别设置有带左烧录测试夹具的左直线滑动导轨以及带右烧录测试夹具的右直线滑动导轨，所述左直线滑动导轨安装在左直线滑动平台上，所述右直线滑动导轨安装在右直线滑动平台上，所述左直线滑动平台连接有第四电磁铁，所述右直线滑动导轨连接有第五电磁铁，并且，所述第四电磁铁、第五电磁铁分别与第一复位弹簧、第二复位弹簧相连。