[实用新型]一拖多闪存测试设备有效

专利信息
申请号: 201120564550.8 申请日: 2011-12-29
公开(公告)号: CN202404914U 公开(公告)日: 2012-08-29
发明(设计)人: 彭玉元 申请(专利权)人: 彭玉元
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及一种闪存测试设备,具体是指一种可实现对各种不同方案进行测试的一拖多闪存测试设备,其包括测试板板体及板体上的对外连接接口,所述测试板板体上固定有至少两路测试设备,所述该两路测试设备中各设有不同的测试方案,且所述每路测试设备电路上均设有开关及指示灯。本实用新型通过在板体上集中设置带有各种测试方案的测试设备,避免了常规的测试需要多种测试方案及制具,并且需要逐个更换选择测试方案的缺陷,可以帮助测试对象快速找到最适合的测试方案,大大提高了测试效率。
搜索关键词: 一拖多 闪存 测试 设备
【主权项】:
一拖多闪存测试设备,包括测试板板体(2‑1)及板体上的对外连接接口(1‑2),其特征在于,所述测试板板体(2‑1)上固定有至少两路测试设备(1‑4),所述该两路测试设备中各设有不同的测试方案。
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