[实用新型]一拖多闪存测试设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种闪存测试设备，具体是指一种可实现对各种不同方案进行测试的一拖多闪存测试设备。

背景技术

闪存(FLASH)是一种广泛用于U盘，移动硬盘(SSD)，SD卡，TF卡，GPS，数码相机，DV等各种日常数码必备品的重要的元器件。其封装有多种方式，比较典型的有TSOP、BGA、LGA等类型，在生产过程中都需要经过检验后才可以投入市场。一如其它元器件，它也有质优质差之分，有可能适用于一些方案或设备，也可能不适用于一些方案或设备，因此在实际使用这些元器件之前，对它进行测试就显得非常重要。

现有的测试设备结构单一，各种不同的测试方案需要连接至各种不同的测试设备进行，不但需要购置不同的测试设备，增加企业的生产成本，而且需要逐个的更换尝试不同的测试设备，导致测试效率低下，延误产品生产周期。

实用新型内容

本实用新型目的在于克服现有测试设备测试效率低下的不足，提供一种可对一个测试对象来使用多套测试方案的一拖多闪存测试设备。

为实现上述目的，本实用新型所采取的技术方案是：一拖多闪存测试设备，包括测试板板体及板体上的对外连接接口，所述测试板板体上固定有至少两路测试设备，所述该两路测试设备中各设有不同的测试方案。

实现本实用新型目的的技术方案还进一步包括，所述每路测试设备电路上均设有开关及指示灯。

进一步的，所述连接接口为USB接口。

本实用新型通过在板体上集中设置带有各种测试方案的测试设备，避免了常规的测试需要多种测试方案及制具，并且需要逐个更换选择测试方案的缺陷，可以帮助测试对象快速找到最适合的测试方案，大大提高了测试效率。

附图说明

图1为本实用新型主视图。

图2为本实用新型后视图。

图3为本实用新型测试结构图。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型结构进行详细说明。

如图1-图2所示，本实用新型所述一种一拖多闪存测试设备，包括测试板板体2-1及板体上的对外连接接口1-2，所述该连接接口1-2为USB接口，可直接连接至电脑的USB接口，通过电脑上预先装载的各方案公司提供的测试程序对测试对象1-5进行测试。

测试板板体2-1上固定有至少两路测试设备1-4A、1-4B...，所述该两路测试设备中各设有不同的测试方案，所述每路测试设备电路上均设有开关1-3A、1-3B...，及指示灯1-6A、1-6B...，各路测试设备一端连接至连接接口1-2，另一端连接至测试对象1-5。

如图3为本实用新型测试结构图。其测试流程为：将固定有测试对象的本实用新型通过连接接口1-2连接至电脑1-1，按下开关1-3A，因为其它开关处于关闭状态，因此，此时测试对象可以按照1-4A的方案来进行测试与挑选，如果测试结果为良，则测试可以结束，同时判断为测试对象为适合1-4A测试方案的良品；如果测试结果为不良，则可以用本实用新型提供的1-3B开关导通，以连接测试方案1-4B来进行相应的测试与挑选，如果测试结果为良，同样可以判断为测试对象为适合测试方案1-4B所示的方案，以此类推，如测试对象不适合上述方案时，可以继续采用本实用新型提供的其它方案来进行测试与挑选。在工作的过程中，指示灯1-6A，1-6B，1-6C...会指示该路测试设备的工作状态，准确的显示测试结果，操作简便易行。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。