[实用新型]一种温度可调控四探针方块电阻测试系统有效
| 申请号： | 201120522084.7 | 申请日： | 2011-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN202383205U | 公开（公告）日： | 2012-08-15 |
| 发明（设计）人： | 徐晓峰;黄海燕;汪海旸;何兴峰 | 申请（专利权）人： | 东华大学 |
| 主分类号： | G01R27/08 | 分类号： | G01R27/08;G01N25/02 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 翁若莹 |
| 地址： | 201620 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型的技术方案提供了一种温度可调控四探针方块电阻测试系统，其特征在于，电压可调电源的正极分别MC1403精密低压基准电源的引脚1与OP07双极型运算放大器的引脚7连接，MC1403精密低压基准电源的引脚3接地，引脚2通过电阻R1与OP07双极型运算放大器的引脚3连接，OP07双极型运算放大器的引脚4与电压可调电源的负极连接，引脚6通过万用表I与四探针4连接，引脚2与四探针1连接，同时通过电阻R2接地。不仅能测出常温下的方块电阻，而且能快速准确的测出室温至120℃之间任一温度的方块电阻，也能快速分析一些功能材料随温度变化的相变性能，并且通过数字直接显示，兼具测量精度高、灵敏度高、稳定性好、测量范围广、结构紧凑和使用方便的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 温度 调控 探针 方块 电阻 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种温度可调控四探针方块电阻测试系统，包括电源、SDY‑4四探针探头的四探针1、四探针2、四探针3和四探针4、万用电表V、万用电表I以及四探针测试平台，万用电表V的两引脚分别与SDY‑4四探针探头的四探针2与四探针3连接，四探针1、四探针2、四探针3及四探针4均与四探针测试平台连接，其特征在于，电源正极分别MC1403精密低压基准电源的引脚1与OP07双极型运算放大器的引脚7连接，MC1403精密低压基准电源的引脚3接地，MC1403精密低压基准电源的引脚2通过电阻R1与OP07双极型运算放大器的引脚3连接，OP07双极型运算放大器的引脚4与电源负极连接，OP07双极型运算放大器的引脚6通过万用表I与四探针4连接，OP07双极型运算放大器的引脚2与四探针1连接，同时通过电阻R2接地。
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