[实用新型]一种芯片测试座有效
| 申请号： | 201120497765.2 | 申请日： | 2011-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN202443034U | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | 周家春;韩代福;潘锐柏;吉迎东 | 申请（专利权）人： | 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R1/067 |
| 代理公司： | 苏州市新苏专利事务所有限公司 32221 | 代理人： | 朱建民 |
| 地址： | 215021 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种芯片测试座，涉及到半导体芯片测试装置。在探针架上的针穴的内壁覆盖着镀金层和镀镍层，针穴内部有包括上动针、弹簧和下动针在内的弹簧探针。采用本芯片测试座，可以消除弹簧探针的针体外径与针穴之间的间隙，这样弹簧探针的针头与芯片针脚的错位可能性大为降低。弹簧探针的针头与芯片针脚之间接触的定位精度和性能大为提高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 | ||
【主权项】：
一种芯片测试座，包括弹簧探针、探针架（1），其特征在于：在探针架上，针穴（7）的内壁覆盖着镀金层和镀镍层（6），针穴（7）内部有包括上动针（2）、弹簧（3）和下动针（4）在内的弹簧探针。 2.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述的镀金层的厚度为0.5～3微米。 3.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述的镀镍层的厚度为3～10微米。
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