[实用新型]芯片测试机上的键盘盒结构有效
| 申请号： | 201120497245.1 | 申请日： | 2011-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN202471758U | 公开（公告）日： | 2012-10-03 |
| 发明（设计）人： | 金英杰 | 申请（专利权）人： | 金英杰 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种芯片测试机结构，尤其是一种芯片测试机上的键盘盒结构。包括一底部框架，在底部框架上设有键盘盒和显示器，所述的键盘盒底部设有一旋转板，所述的显示器通过一旋转支架安装于底部框架上部，所述的旋转板外侧底部设有一升降块与底部框架上部之间通过转轴结构连接，所述的旋转板安装于一升降调节结构上。本实用新型的芯片测试机上的键盘盒结构通过升降调节结构可以调节键盘盒所处的高度，并且可以通过旋转板带动键盘盒进行角度的偏转，从而实现了不同的工作人员的对不同操作高度的需要，以及处于不同的位置对操作角度的需要，提高了工作人员的操作舒适度，从而提高了工作效率和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 键盘 结构 | ||
【主权项】：
一种芯片测试机上的键盘盒结构，包括一底部框架，在底部框架上设有键盘盒和显示器，其特征在于：所述的键盘盒底部设有一旋转板，所述的显示器通过一旋转支架安装于底部框架上部，所述的旋转板外侧底部设有一升降块与底部框架上部之间通过转轴结构连接，所述的旋转板安装于一升降调节结构上。
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