[实用新型]芯片测试机上的键盘盒结构

权利要求书

1.一种芯片测试机上的键盘盒结构，包括一底部框架，在底部框架上设有键盘盒和显示器，其特征在于：所述的键盘盒底部设有一旋转板，所述的显示器通过一旋转支架安装于底部框架上部，所述的旋转板外侧底部设有一升降块与底部框架上部之间通过转轴结构连接，所述的旋转板安装于一升降调节结构上。

2.如权利要求1所述的芯片测试机上的键盘盒结构，其特征在于：所述的升降调节结构包括设于旋转轴下方的升降控制环，所述的升降控制环套接与垂直的高度控制杆上，所述的高度控制杆上设有多个高度定位孔，所述的控制环上设有高度定位销，高度定位销连接一推拉高度定位销进出高度定位孔的把手。

3.如权利要求2所述的芯片测试机上的键盘盒结构，其特征在于：所述的把手和高度定位销通过一安装块安装于升降控制环底部。

4.如权利要求3所述的芯片测试机上的键盘盒结构，其特征在于：所述的安装块底部安装一液压棒。

5.如权利要求4所述的芯片测试机上的键盘盒结构，其特征在于：所述的键盘盒中还设有一可在侧部进行抽拉的抽屉结构。

6.如权利要求5所述的芯片测试机上的键盘盒结构，其特征在于：所述的键盘盒上设有一可开合的上盖。

7.如权利要求6所述的芯片测试机上的键盘盒结构，其特征在于：所述的键盘盒与上盖之间通过液压助力棒连接。