[实用新型]消除LCM关机残影的测试装置有效
| 申请号： | 201120445511.6 | 申请日： | 2011-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN202385228U | 公开（公告）日： | 2012-08-15 |
| 发明（设计）人： | 丁学文 | 申请（专利权）人： | 星源电子科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所 44248 | 代理人： | 孙伟 |
| 地址： | 518132 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种消除LCM关机残影的测试装置包括连接液晶模组LCM的测试单元，测试单元第一输出端口连接液晶模组LCM，第二输出端口通过电阻R接LCM驱动芯片IO输入；第三输出端口连接有双掷开关K1，该双掷开关K1的一路连接LCM驱动芯片IO输入，另外一路接地；或门芯片U的两个输入端分别连接第四输出端口和第三输出端口，或门芯片U的输出端连接第一电子开关S1的控制端；所述第五输出端口连接第二电子开关S3，该第二电子开关S3串联在液晶模组LCM的电源输入上。在LCM驱动IC断电前，使显示电极上的电荷尽量的少，以有效的消除LCM的关机残影，达到保护LCM的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 消除 lcm 关机 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种消除LCM关机残影的测试装置，其特征在于：该测试装置包括连接被测液晶模组LCM的测试单元（10），该测试单元至少第一至第五、输出端口，其中第一输出端口（11）连接液晶模组LCM，第二输出端口（12）通过电阻R接LCM驱动芯片IO输入，所述电阻R还并联有电容C，该第二输出端口（12）还通过第一电子开关S1以及复位开关K2接地；第三输出端口（13）连接有双掷开关K1，该双掷开关K1的一路连接LCM驱动芯片IO输入，另外一路接地；该测试装置还包括有或门芯片U，该或门芯片U的一个输入端连接第四输出端口（14），另外的一个输入端连接第三输出端口（13），或门芯片U的输出端连接第一电子开关S1的控制端；所述第五输出端口（15）连接第二电子开关S3，该第二电子开关S3串联在液晶模组LCM的电源输入上。
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