[实用新型]消除LCM关机残影的测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及检测技术，特别涉及液晶模组性能测试的装置。

背景技术

液晶模组LCM在关机时会有残影，其主要是由模组的显示电极放电过慢造成电场残留引起的。虽然现有的驱动IC，在关机时，会把所有的GATE线路置高，以打开TFT，把显示电极上的电荷通过SOURCE电路放出去，但是速度过慢。这种残存的电场，对显示电极间的液晶材料是极其有害的，然而在LCM生产过程中的测试阶段，现在还没有比较可靠的设备对该性能进行测试。

发明内容

本实用新型提供一种测试设备，解决现有技术中不能有效测试关机残影的技术问题。

本实用新型为解决上述技术问题而提供的这种一种消除LCM关机残影的测试装置，其特征在于：该测试装置包括连接被测液晶模组LCM的测试单元，该测试单元至少第一至第五、输出端口，其中第一输出端口连接液晶模组LCM，第二输出端口通过电阻R接LCM驱动芯片IO输入，所述电阻R还并联有电容C，该第二输出端口还通过第一电子开关S₁以及复位开关K₂接地；第三输出端口连接有双掷开关K₁，该双掷开关K₁的一路连接LCM驱动芯片IO输入，另外一路接地；该测试装置还包括有或门芯片U，该或门芯片U的一个输入端连接第四输出端口，另外的一个输入端连接第三输出端口，或门芯片U的输出端连接第一电子开关S₁的控制端；所述第五输出端口连接第二电子开关S₃，该第二电子开关S₃串联在液晶模组LCM的电源输入上。

本实用新型的有益效果是：通过将传统的模组关机模式做了修改，通过程序，在LCM驱动IC断电前，使显示电极上的电荷尽量的少，以有效的消除LCM的关机残影，达到保护LCM的目的。

附图说明

图1是本实用新型测试装置的电路原理图。

具体实施方式

结合上述附图说明本实用新型的具体实施例。

由图1中可知，这种消除LCM关机残影的测试装置包括连接被测液晶模组LCM的测试单元10，测试单元10为芯片或单板机，该测试单元至少第一至第五、输出端口，其中第一输出端口11连接液晶模组LCM，第二输出端口12通过电阻R接LCM驱动芯片IO输入，所述电阻R还并联有电容C，该第二输出端口12还通过第一电子开关S₁以及复位开关K₂接地；第三输出端口13连接有双掷开关K₁，该双掷开关K₁的一路连接LCM驱动芯片IO输入，另外一路接地；该测试装置还包括有或门芯片U，该或门芯片U的一个输入端连接第四输出端口14，另外的一个输入端连接第三输出端口13，或门芯片U的输出端连接第一电子开关S₁的控制端；所述第五输出端口15连接第二电子开关S₃，该第二电子开关S₃串联在液晶模组LCM的电源输入上。

本实用新型改变了LCM的关机模式，并不像传统方式那样，立即关掉LCM的电源，而是利用延时程序，在关机时，将各个显示单元写入最低灰度（以16位显示数据为例，常白模组为FFFFH，常黑模组为0000H），使显示电极与COMMON电极间的电势差最小，显示电极上的电荷尽量的少，再关掉电源，这样，关机后的放电过程会进行的很快，达到消除残影的目的。

大部分的LCM测试电路板都是由单片机来控制的，如图1所示，在单片机的外部中断接上一个单刀双掷开关，分别连接IOVCC和GND，中断模式选择边沿触发，开关则设定为按下时，接通IOVCC，弹开时，接通GND，正常工作为按下状态，此时外部中断位检测到的信号为高电平，单片机正常工作，提供LCM驱动所需信号，当需要关闭LCM时，把开关掷向GND，此时外部中断位变为低电平，中断位检测到由高到低的电平变化，中断开始响应，开始执行中断程序。

中断程序为三个部分：

1、从第一行第一列的像素开始，为显示单元送入FFFFH信号（这里指常白显示模组，对于常黑显示模组，送入信号为0000H），当送到最后一行最后一列的像素时为止，即送入一帧信号。这样可以使各个显示电极与COMMON电极的电压最小，便于最终的放电。

2、单片机把控制信号2置低（在单片机开始工作时，通过程序把此位置高），通过电子开关，关掉LCM驱动IC电源。由于第一步的作用，关掉电源后，残影会很快消失。