[实用新型]一种具有真实刻度的精密位移测量装置有效
| 申请号： | 201120418204.9 | 申请日： | 2011-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN202329553U | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 黄继祥 | 申请（专利权）人： | 黄继祥 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 北京市西城*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种具有真实刻度的精密位移测量装置，包括主尺（101）、副尺（201）、光源（301），还包括光路（401）、信号处理电路（203）。由于刻度编码采用图形特征编码，不存在增量编码，因此不会产生由增量编码带来的一系列问题。本装置特别是涉及一种刻度直接读取的方法，用于替代光栅、磁栅等以栅格为特征的位移测量装置。用本装置制作的电子尺具有真实的刻度，名副其实，可以完全取代传统电子尺。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 具有 真实 刻度 精密 位移 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种具有真实刻度的精密位移测量装置，包括主尺（101）、副尺（201）、光源（301），还包括光路（401）、信号处理电路（203），其特征是：在主尺的正面有用于刻度识别的图形（102），图形间的距离确定，每个图形只能确定一个刻度值和刻度位置，主尺的正面对着副尺，在副尺上装有图像传感器（202），图像传感器的受光面朝向主尺的正面，信号处理的电路也装在副尺上，在光源（301）中包括调光模块，在位于副尺的图像传感器前面的光路（401）中采用硬件自动调节模块调整放大倍数。
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