[实用新型]一种具有真实刻度的精密位移测量装置有效
| 申请号: | 201120418204.9 | 申请日: | 2011-10-28 |
| 公开(公告)号: | CN202329553U | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
| 发明(设计)人: | 黄继祥 | 申请(专利权)人: | 黄继祥 |
| 主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 北京市西城*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 具有 真实 刻度 精密 位移 测量 装置 | ||
1.一种具有真实刻度的精密位移测量装置,包括主尺(101)、副尺(201)、光源(301),还包括光路(401)、信号处理电路(203),其特征是:在主尺的正面有用于刻度识别的图形(102),图形间的距离确定,每个图形只能确定一个刻度值和刻度位置,主尺的正面对着副尺,在副尺上装有图像传感器(202),图像传感器的受光面朝向主尺的正面,信号处理的电路也装在副尺上,在光源(301)中包括调光模块,在位于副尺的图像传感器前面的光路(401)中采用硬件自动调节模块调整放大倍数。
2.根据权利要求1所述的一种具有真实刻度的精密位移测量装置,其特征是:主尺的材料可以是透明的也可以是不透明的。
3.根据权利要求1所述的一种具有真实刻度的精密位移测量装置,其特征是:图像传感器可以是线阵也可以是面阵图像传感器,可以是黑白图像传感器也可以是彩色图像传感器;既可以是CCD图像传感器也可以是CMOS图像传感器。
4.根据权利要求1所述的一种具有真实刻度的精密位移测量装置,其特征是:本装置可以是一个主尺与一个副尺组合,也可以是一个主尺和复数个副尺组合。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于黄继祥,未经黄继祥许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201120418204.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





