[实用新型]一种用于检测电子产品结构密闭性测试的实验装置有效

专利信息
申请号: 201120348212.0 申请日: 2011-09-16
公开(公告)号: CN202255778U 公开(公告)日: 2012-05-30
发明(设计)人: 李海龙;温永涛 申请(专利权)人: 惠州TCL移动通信有限公司
主分类号: G01M3/02 分类号: G01M3/02
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 代理人: 杨宏;刘文求
地址: 516006 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种用于检测电子产品结构密闭性测试的实验装置,其包括支架,并且所述支架上设置有能旋转的箱体,所述箱体用于放置试件与粉尘,所述箱体与一用于驱动箱体旋转的驱动机构相连接。本实用新型通过将试件与粉尘放置在箱体内,然后驱动箱体按照预设的旋转速度以及旋转次数旋转,使试件在粉尘环境下进行充分震荡,然后将试件取出测试试件各项功能是否正常,显示屏内是否有明显灰尘,从而提高了电子产品结构密闭性检测的准确性,其操作简便,检测效率高,是现有技术的极大进步。
搜索关键词: 一种 用于 检测 电子 产品结构 密闭 测试 实验 装置
【主权项】:
一种用于检测电子产品结构密闭性测试的实验装置,其包括支架,其特征在于,所述支架上设置有旋转的箱体,所述箱体用于放置试件与粉尘,所述箱体与一用于驱动箱体旋转的驱动机构相连接。
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