[实用新型]一种用于检测电子产品结构密闭性测试的实验装置

权利要求书

1.一种用于检测电子产品结构密闭性测试的实验装置，其包括支架，其特征在于，所述支架上设置有旋转的箱体，所述箱体用于放置试件与粉尘，所述箱体与一用于驱动箱体旋转的驱动机构相连接。

2.根据权利要求1所述的实验装置，其特征在于，所述箱体相向的侧壁上分别设置有转轴，两个转轴位于同一轴线，一个转轴设置在支架的轴承内，另一个转轴与所述驱动机构相连接。

3.根据权利要求2所述的实验装置，其特征在于，所述驱动机构包括一减速电机，所述减速电机的动力输出轴与一联轴器相连接，所述联轴器与所述另一个转轴相连接；所述减速电机上设置有一转速控制器，所述转速控制器上设置有用于记录所述箱体旋转次数的计数器。

4.根据权利要求1所述的实验装置，其特征在于，所述支架底部均匀设置有多个可调脚垫。

5.根据权利要求1所述的实验装置，其特征在于，所述箱体的任一侧壁上设置有一用于放入试件与粉尘的入口，与设置有所述入口的侧壁相向之侧壁的下部设置有粉尘清理出口，所述入口配置有一密封门体，所述粉尘清理出口配置有一旋塞。

6.根据权利要求5所述的实验装置，其特征在于，所述入口为方形，所述粉尘清理出口为圆形。