[发明专利]聚合物,光致抗蚀剂组合物和形成光刻图案的方法有效
申请号: | 201110463256.2 | 申请日: | 2011-12-31 |
公开(公告)号: | CN102617789A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | Y·C·裴;T·H·彼德森;刘沂;朴钟根;李承泫;T·卡多拉西亚 | 申请(专利权)人: | 罗门哈斯电子材料有限公司;陶氏环球技术有限公司 |
主分类号: | C08F220/32 | 分类号: | C08F220/32;C08F222/14;C08F220/18;C08F220/28;G03F7/004;G03F7/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈哲锋 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
聚合物,光致抗蚀剂组合物和形成光刻图案的方法。本发明提供了聚合物,其包括一个包含特殊缩醛部分的单元和一个包含内酯部分的单元。也提供了包含这样的一种聚合物的光致抗蚀剂组合物,用所述光致抗蚀剂组合物涂覆的基底和形成光刻图案的方法。所述聚合物,组合物,方法和涂覆基底可特别应用于半导体设备的制造。一种聚合物,所述聚合物包括:由下面通式(I)的单体形成的第一单元:和包括内酯部分的第二单元。 |
||
搜索关键词: | 聚合物 光致抗蚀剂 组合 形成 光刻 图案 方法 | ||
【主权项】:
1.一种聚合物,所述聚合物包括:由下面通式(I)的单体形成的第一单元:
其中:L代表单键或C1到C10的有机基团;R1代表氢或C1到C3的烷基基团;R2各自独立的代表氢原子或C1到C10的有机基团;R3各自独立的代表氢原子或C1到C10的有机基团,那些连接到同一个碳原子的R3任选的一起形成环;和R4各自独立的代表C1到C10的有机基团,那些连接到同一个碳原子的R4任选的一起形成环;和包括内酯部分的第二单元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于罗门哈斯电子材料有限公司;陶氏环球技术有限公司,未经罗门哈斯电子材料有限公司;陶氏环球技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110463256.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种压力增倍的液压机油缸
- 下一篇:治疗正粘病毒感染的方法