[发明专利]聚合物,光致抗蚀剂组合物和形成光刻图案的方法有效

专利信息
申请号: 201110463256.2 申请日: 2011-12-31
公开(公告)号: CN102617789A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: Y·C·裴;T·H·彼德森;刘沂;朴钟根;李承泫;T·卡多拉西亚 申请(专利权)人: 罗门哈斯电子材料有限公司;陶氏环球技术有限公司
主分类号: C08F220/32 分类号: C08F220/32;C08F222/14;C08F220/18;C08F220/28;G03F7/004;G03F7/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈哲锋
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 聚合物,光致抗蚀剂组合物和形成光刻图案的方法。本发明提供了聚合物,其包括一个包含特殊缩醛部分的单元和一个包含内酯部分的单元。也提供了包含这样的一种聚合物的光致抗蚀剂组合物,用所述光致抗蚀剂组合物涂覆的基底和形成光刻图案的方法。所述聚合物,组合物,方法和涂覆基底可特别应用于半导体设备的制造。一种聚合物,所述聚合物包括:由下面通式(I)的单体形成的第一单元:和包括内酯部分的第二单元。
搜索关键词: 聚合物 光致抗蚀剂 组合 形成 光刻 图案 方法
【主权项】:
1.一种聚合物,所述聚合物包括:由下面通式(I)的单体形成的第一单元:其中:L代表单键或C1到C10的有机基团;R1代表氢或C1到C3的烷基基团;R2各自独立的代表氢原子或C1到C10的有机基团;R3各自独立的代表氢原子或C1到C10的有机基团,那些连接到同一个碳原子的R3任选的一起形成环;和R4各自独立的代表C1到C10的有机基团,那些连接到同一个碳原子的R4任选的一起形成环;和包括内酯部分的第二单元。
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