[发明专利]航天器舱内污染量测试装置有效

专利信息
申请号: 201110425693.5 申请日: 2011-12-19
公开(公告)号: CN102539479A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 臧卫国;于钱;杨东升;张艳景;院小雪;李娜;焦子龙;孙继鹏;白羽;代佳龙;刘庆海;王俊峰 申请(专利权)人: 北京卫星环境工程研究所
主分类号: G01N27/00 分类号: G01N27/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种用于真空热试验的航天器舱内污染量测试装置,由舱内污染量探头系统和与其电通信的测试系统组成,其中,探头系统包括探头和驱动器,探头包括固定设置在法兰上的传感晶片和参考晶片,法兰上还设置有测量两晶片的温度传感器,驱动器中设置有电路结构,温度传感器与驱动器中的输出驱动电路分别与测试系统电通信以将温度和频率数据传送给测试系统。本发明的用于真空热试验的航天器舱内污染量测试装置,实现了污染量测量量程达到1×10-5g/cm2,探头适应温度达到60℃,满足了航天器真空热试验污染量监测的需要。
搜索关键词: 航天器 污染 测试 装置
【主权项】:
一种用于真空热试验的航天器舱内污染量测试装置,由舱内污染量探头系统和与其电通信的测试系统组成,其中,探头系统包括探头和驱动器,探头包括固定设置在法兰上的传感晶片和参考晶片,法兰上还设置有测量两晶片的温度传感器,驱动器中设置有电路结构,电路结构中,传感晶片高增益驱动电路电连接有传感晶片整波电路,参考晶片高增益驱动电路电连接有参考晶片整波电路,然后两者并联连接到差频电路上,差频电路电连接到输出驱动电路上,传感晶片和参考晶片分别与传感晶片高增益驱动电路和参考晶片高增益驱动电路电连接,温度传感器与驱动器中的输出驱动电路分别与测试系统电通信以将温度和频率数据传送给测试系统。
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