[发明专利]航天器舱内污染量测试装置有效
| 申请号： | 201110425693.5 | 申请日： | 2011-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN102539479A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 臧卫国;于钱;杨东升;张艳景;院小雪;李娜;焦子龙;孙继鹏;白羽;代佳龙;刘庆海;王俊峰 | 申请（专利权）人： | 北京卫星环境工程研究所 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 航天器 污染 测试 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于真空热试验的航天器舱内污染量测试装置，由舱内污染量探头系统和与其电通信的测试系统组成，其中，探头系统包括探头和驱动器，探头包括固定设置在法兰上的传感晶片和参考晶片，法兰上还设置有测量两晶片的温度传感器，驱动器中设置有电路结构，电路结构中，传感晶片高增益驱动电路电连接有传感晶片整波电路，参考晶片高增益驱动电路电连接有参考晶片整波电路，然后两者并联连接到差频电路上，差频电路电连接到输出驱动电路上，传感晶片和参考晶片分别与传感晶片高增益驱动电路和参考晶片高增益驱动电路电连接，温度传感器与驱动器中的输出驱动电路分别与测试系统电通信以将温度和频率数据传送给测试系统。
2.如权利要求1所述的航天器舱内污染量测试装置，其中，驱动器旁还设置有散热器。
3.如权利要求1所述的航天器舱内污染量测试装置，其中，传感晶片和参考晶片电极表面采用镀铬改性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京卫星环境工程研究所，未经北京卫星环境工程研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110425693.5/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种发条力矩测试仪
- 下一篇：测量PBS偏振膜面偏向角度的装置及方法
