[发明专利]矩阵衬底、检测设备、检测系统和驱动检测设备的方法有效
申请号: | 201110424534.3 | 申请日: | 2011-12-16 |
公开(公告)号: | CN102569318A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 望月千织;渡边实;横山启吾;大藤将人;川锅润;藤吉健太郎;和山弘 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H04N5/335;A61B6/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 卜荣丽 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请涉及矩阵衬底、检测设备、检测系统和驱动检测设备的方法。提供一种矩阵衬底,所述矩阵衬底实现高操作速度和高可靠性,并能够在连接端子数量有限的同时获得高质量图像。所述矩阵衬底包括按矩阵布置的像素、在列方向上布置的N个驱动线、P个连接端子和解复用器,其中,P小于N,所述解复用器设置在连接端子与驱动线之间并包括第一多晶半导体TFT和第一连接端子。所述解复用器还包括在连接端子之一与驱动线中的两个或更多个之间的第二多晶半导体TFT和第二控制线,第二控制线用于使驱动线保持具有使像素处于非选择状态的非选择电压。 | ||
搜索关键词: | 矩阵 衬底 检测 设备 系统 驱动 方法 | ||
【主权项】:
一种矩阵衬底,包括:多个像素,所述多个像素按矩阵布置;多个驱动线,所述多个驱动线在列方向上布置,所述多个驱动线中的每个驱动线在行方向上与多个像素共同连接;多个连接端子,所述多个连接端子被配置为将驱动所述像素的驱动电路和所述驱动线彼此连接,所述多个连接端子的数量比所述驱动线的数量少;和解复用器,所述解复用器被配置为包括多个第一多晶半导体薄膜晶体管,并包括第一控制线,所述多个第一多晶半导体薄膜晶体管布置在所述连接端子与所述驱动线之间,以一对一的方式与所述驱动线对应,并将使所述像素处于选择状态的第一电压供给所述驱动线,所述第一控制线将所述第一多晶半导体薄膜晶体管的导通电压和非导通电压供给所述第一多晶半导体薄膜晶体管的控制电极,其中,所述解复用器包括多个第二多晶半导体薄膜晶体管,并包括第二控制线,所述多个第二多晶半导体薄膜晶体管布置在所述连接端子与所述驱动线之间,以一对一的方式与所述驱动线对应,并使所述驱动线保持具有使所述像素处于非选择状态的第二电压,所述第二控制线将所述第二多晶半导体薄膜晶体管的导通电压和非导通电压供给所述第二多晶半导体薄膜晶体管的控制电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的