[发明专利]半导体存储器件有效

专利信息
申请号: 201110413991.2 申请日: 2011-12-13
公开(公告)号: CN102779828A 公开(公告)日: 2012-11-14
发明(设计)人: 郑星雄 申请(专利权)人: 海力士半导体有限公司
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24;H01L45/00
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 郭放;许伟群
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明提供一种半导体存储器件,包括:隔离层,所述隔离层形成在衬底中并且限定有源区;沟槽,所述沟槽形成在衬底中并且将有源区的一部分限定为有源柱;字线,所述字线形成在沟槽的内部;子源线,所述子源线形成在沟槽之下并且与字线相交叉;主源线,所述主源线形成在衬底之上、与子源线耦接、并且与字线相交叉;可变电阻器图案,所述可变电阻器图案形成在有源柱之上;以及位线,所述位线与可变电阻器图案接触并且与字线相交叉。
搜索关键词: 半导体 存储 器件
【主权项】:
一种半导体存储器件,包括:隔离层,所述隔离层形成在衬底中并且限定有源区;沟槽,所述沟槽形成在所述衬底中并且将所述有源区的一部分限定为有源柱;字线,所述字线形成在所述沟槽内部;子源线,所述子源线形成在所述沟槽之下并且与所述字线相交叉;主源线,所述主源线形成在所述衬底之上、与所述子源线耦接、并且与所述字线相交叉;可变电阻器图案,所述可变电阻器图案形成在所述有源柱之上;以及位线,所述位线与所述可变电阻器图案接触并且与所述字线相交叉。
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