[发明专利]地表粗糙度参数测量装置及方法有效
| 申请号： | 201110383770.5 | 申请日： | 2011-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN103063168A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 陈权;李震;曾江源 | 申请（专利权）人： | 中国科学院对地观测与数字地球科学中心 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 100094 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种地表粗糙度参数测量装置及方法。地表粗糙度参数测量装置包括：两垂直设置的柱状的支架；在两个支架之间分别固定连接有水平的上横杆和下横杆，上横杆和下横杆上分别对应开设有上通孔和下通孔，探针分别垂直穿设于上通孔和对应的下通孔中；探针与上通孔及探针与下通孔之间为间隙配合；探针的顶端设置有用于防止探针由上通孔中滑脱的止挡头，探针的底端设置有用于与地表相接触的抵顶部。本发明提供的地表粗糙度参数测量装置，提高了测量效率，且结构简单、成本低廉；还能够适应地表覆盖植被的地点或与支架接触的地面不够水平的地点的测量，且能保证良好的测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 地表 粗糙 参数 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种地表粗糙度参数测量装置，其特征在于，包括：两沿垂向设置的柱状的支架；在两个所述支架之间分别固定连接有水平的上横杆和下横杆，所述上横杆和下横杆上分别对应开设有多个上通孔和下通孔，多个探针分别垂直穿设于所述上横杆上的上通孔和所述下横杆上对应的下通孔中；所述探针与所述上通孔及所述探针与所述下通孔之间为间隙配合；所述探针的顶端设置有用于防止所述探针由所述上通孔中滑脱的止挡头，所述探针的底端设置有用于与地表相接触的抵顶部，且所述抵顶部的横截面积大于所述下通孔。
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