[发明专利]地表粗糙度参数测量装置及方法

权利要求书

1.一种地表粗糙度参数测量装置，其特征在于，包括：两沿垂向设置的柱状的支架；在两个所述支架之间分别固定连接有水平的上横杆和下横杆，所述上横杆和下横杆上分别对应开设有多个上通孔和下通孔，多个探针分别垂直穿设于所述上横杆上的上通孔和所述下横杆上对应的下通孔中；所述探针与所述上通孔及所述探针与所述下通孔之间为间隙配合；所述探针的顶端设置有用于防止所述探针由所述上通孔中滑脱的止挡头，所述探针的底端设置有用于与地表相接触的抵顶部，且所述抵顶部的横截面积大于所述下通孔。

2.根据权利要求1所述的地表粗糙度参数测量装置，其特征在于，两个所述支架的顶端通过平行于所述上横杆的水平顶板固定连接，所述水平顶板的顶面上固定嵌设有一三水泡水平尺。

3.根据权利要求2所述的地表粗糙度参数测量装置，其特征在于，还包括一垂直固定设置在所述支架、所述下横杆及所述水平顶板的朝向同一方向的侧面的支架基板，所述支架基板朝向所述探针的表面与所述探针之间不接触；且所述支架基板的颜色与所述止挡头的颜色为对比色。

4.根据权利要求1或2或3所述的地表粗糙度参数测量装置，其特征在于，所述探针为自行车辐条，所述自行车辐条的弯端被切割掉形成剪切端，所述剪切端上缠绕的多层胶带作为所述止挡头，所述自行车辐条的另一端上螺接的条母为所述抵顶部。

5.根据权利要求3所述的地表粗糙度参数测量装置，其特征在于，在所述水平顶板朝向所述探针的侧面上，或者在所述支架基板朝向所述探针的表面上、且在所述止挡头的上方设置有两个位于同一水平直线上的颜色与所述架体基板不同的凸起标志点。

6.根据权利要求1或2或3所述的地表粗糙度参数测量装置，其特征在于，所述支架的底端的侧面为楔形面。

7.一种利用权利要求1至6任一所述的地表粗糙度参数测量装置的地表粗糙度参数测量方法，特征在于，包括：

将支架垂直置于待测的地表处，将所述支架的底端压入地表的表面并保证上横杆和下横杆处于水平位置，使探针的底端的抵顶部分别与地表接触；

将一与探针的顶端的止挡头的颜色成对比色的平板置于所述探针及支架的后方作为背景平面；

在所述探针的正前方拍摄在所述背景平面下的探针照片。

8.根据权利要求7所述的地表粗糙度参数测量方法，特征在于，所述将支架垂直置于待测的地表处，将所述支架的底端压入地表的表面并保证上横杆和下横杆处于水平位置，使探针的底端的抵顶部分别与地表接触的步骤具体为：

将所述支架垂直置于待测的地表处，观察三水泡水平尺上的水泡的位置，根据所述水泡的偏移情况调整所述支架的位置，直至所述三水泡水平尺显示水平顶板处于完全水平状态；

确保所述探针的底端的抵顶部分别与地表接触。