[发明专利]校准X射线探测器的装置和方法、校准设备和X射线设备无效
| 申请号： | 201110365141.X | 申请日： | 2011-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN102478661A | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | E.克拉夫特;B.克里斯勒 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01T1/40 | 分类号： | G01T1/40;G01T1/29 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 谢强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及用于借助X射线荧光辐射(6)能量地校准光子计数的X射线探测器(2，27)的一种装置(5)以及一种方法。所述装置(5)包括多种有针对性地选择的化学元素，其中的每个元素在利用电子或利用高能射线(4，28)进行照射时发射具有至少一个特定或特有能量的X射线荧光辐射(6)的光子，所述具有至少一个特定或特有能量的X射线荧光辐射(6)的光子被用于能量地校准光子计数的X射线探测器(2，27)。本发明还涉及具有这种装置(5)的一种校准设备(1)以及一种X射线设备(21)。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 射线 探测器 装置 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种用于借助X射线荧光辐射(6)能量地校准光子计数的X射线探测器(2，27)的装置(5)，所述装置(5)包括多种有针对性地选择的化学元素，其中的每个元素在利用电子或利用高能射线(4，28)进行照射时发射具有至少一个特定或特有能量的X射线荧光辐射(6)的光子，所述具有至少一个特定或特有能量的X射线荧光辐射(6)的光子能够被用于能量地校准所述光子计数的X射线探测器(2，27)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西门子公司，未经西门子公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110365141.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
