[发明专利]校准X射线探测器的装置和方法、校准设备和X射线设备

权利要求书

1.一种用于借助X射线荧光辐射(6)能量地校准光子计数的X射线探测器(2，27)的装置(5)，所述装置(5)包括多种有针对性地选择的化学元素，其中的每个元素在利用电子或利用高能射线(4，28)进行照射时发射具有至少一个特定或特有能量的X射线荧光辐射(6)的光子，所述具有至少一个特定或特有能量的X射线荧光辐射(6)的光子能够被用于能量地校准所述光子计数的X射线探测器(2，27)。

2.根据权利要求1所述的装置(5)，其中，不同的元素被这样选择，使得从所述不同元素中发射的X射线荧光辐射(6)的光子的不同的特定或特有的能量能够被明显地相互区别。

3.根据权利要求1或2所述的装置(5)，其中，所述元素以粉末状和/或作为颗粒出现。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的装置(5)，其中，所述元素被相互混合。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的装置(5)，其中，所述元素被被共同压制和/或被布置在载体材料之中或之上，

6.根据权利要求1至5中任一项所述的装置(5)，其中，所述元素形成合金。

7.根据权利要求1至3或5中任一项所述的装置(5)，其中，所述元素被上下重叠地按层布置。

8.根据权利要求1至3或5中任一项所述的装置(5)，其中，所述元素以矩阵形、梳子形和/或曲折形并排布置。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的装置(5)，其中，所述装置被构造为平板形或长方体形状。

10.一种校准设备(1)，用于能量地校准光子计数的X射线探测器(2)，所述校准设备具有电子或高能射线的源(3)以及根据权利要求1至9中任一项所述的装置(5)。

11.一种X射线设备(21)，其具有：多色X射线(28)的源(26)、光子计数的X射线探测器(27)以及根据权利要求1至9中任一项所述的装置(5)，所述装置(5)用于能量地校准所述光子计数的X射线探测器(27)。

12.一种用于在应用根据权利要求1至9中任一项所述的装置(5)的情况下能量地校准光子计数的X射线探测器(2，27)的方法，其中，所述装置(5)被置入电子或高能射线的源(3，26)的辐射路径中，并且其中，将从所述装置(5)发出的X射线荧光辐射(6)以所发射的具有特定或特有能量的X射线荧光辐射(6)的光子的形式，用于能量地校准所述光子计数的X射线探测器(2，27)。