[发明专利]基于EMI噪声分析的GTEM小室校准及评估方法

摘要

本发明公开了基于EMI噪声分析的GTEM小室校准及评估方法，属于电磁兼容技术领域。该方法提出一种GTEM小室辐射电磁干扰噪声提取的多项式模型，分析该模型计算数据与标准数据差值的方差对该模型进行误差补偿，从而对GTEM小室进行校准，并基于高阶矩分析的方法对该校准方法进行评估。本发明所述基于EMI噪声分析的GTEM小室校准及评估方法简便、快速、实用性高，能够提高GTEM小室辐射电磁干扰测量精度。

主权项

一种基于EMI噪声分析的GTEM小室的校准方法，其特征在于包括如下步骤：1)提取GTEM小室辐射电磁干扰噪声的多项式模型：远场中，辐射电场强度的大小表示为： E = E x 2 + E y 2 + E z 2 - - - ( 1 ) 其中Ex、Ey、Ez分别为被测物体在x、y、z三个方向上的辐射电场分量，根据Wilson算法，对于电小尺寸辐射体而言，用电偶极矩和磁偶极矩来描述辐射场特性，若GTEM小室测量与标准测量电场值随频率的变化趋势一致，设yi为3m电波暗室检测结果各频点对应电场数据，xi为对应于标准结果各测试频点的GTEM小室电场数据，其中i＝1，2，3...n，根据多项式模型得到GTEM小室等效远场电场强度的多项式展开式： E i = f ( x i ; A ) = Σ k = 0 m a k x i k - - - ( 2 ) 其中Ei为多项式模型计算值，m为多项式的阶数，考虑到计算的复杂性问题，取m≤20，ak为待定系数，该系数根据yi和xi共同确定，当该多项式模型计算值与yi的误差最小，即： Σ i = 0 n [ y i - f ( x i ; A ) ] 2 = Σ i = 0 n [ y i - Σ k = 0 m a k x i k ] 2 = min - - - ( 3 ) 上式为a0，a1，...，am的多元函数，通过对ak求偏导得到方程组： 2 Σ i = 0 n [ y i - Σ k = 0 m a k x i k ] x i j = 0 , j = 0,1 , . . . , m - - - ( 4 ) 解方程组(4)即得到Ei的系数a0，a1，...，am；2)采用方差分析的方法对步骤1)中提取的多项式模型的计算数据与标准数据之间的误差进行补偿，得到一组最接近标准数据的噪声值作为校准后的GTEM小室的测试结果。