[发明专利]基于激光测距的零件高度的测量方法无效
| 申请号： | 201110340903.0 | 申请日： | 2011-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN103063141A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 王瀚威;申再生 | 申请（专利权）人： | 东莞富强电子有限公司;正崴精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 523455 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于激光测距的零件高度的测量方法，包括如下步骤：(1)激光测距仪匀速沿测量轨迹逐点测量各待测点到该激光测距仪的距离；(2)在步骤(1)进行的同时，激光测距仪将测量轨迹上各待测点的测量结果连同测量时间一并传送至存储单元，该测量时间为该激光测距仪位移至待测点的时间；(3)当激光测距仪结束测量时，存储单元将接收到的资料发送至分析单元；(4)分析单元根据存储单元发送的资料，并结合测量轨迹和各待测点位置，计算出各待测点的高度基准值并对外输出。本发明省去了测量过程中各待测点位置的确定以及激光测距仪在各待测点的起停时间，节约了测量时间，因此尤其适用于大批量同规格产品的高度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 激光 测距 零件 高度 测量方法 | ||
【主权项】：
一种基于激光测距的零件高度的测量方法，其特征在于：包括如下步骤：(1)激光测距仪匀速沿测量轨迹逐点测量各待测点到该激光测距仪的距离；(2)在步骤(1)进行的同时，激光测距仪将测量轨迹上各待测点的测量结果连同测量时间一并传送至存储单元，该测量时间为该激光测距仪位移至待测点的时间；(3)当该激光测距仪结束测量时，该存储单元将接收到的资料发送至分析单元；(4)该分析单元根据存储单元发送的资料，并结合测量轨迹和各待测点位置，计算出各待测点的高度基准值并对外输出。
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