[发明专利]基于激光测距的零件高度的测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种高度测量方法，尤其涉及一种基于激光测距技术实现的多零件产品高度测量方法。

背景技术

激光测距技术是指以激光器作为光源进行测距的技术。它的基本原理是利用激光测距仪发射出的激光经被测量物体反射后又被测距仪接收所需的往返时间来实现被测物体的距离测量，其测距公式为：D＝0.5c×t，式中，D是测量距离，c是光速，t是测距信号往返时间。

激光测距不仅作为一种测量距离的技术得到了广泛应用，也作为一种检测手段在工业检测技术中得到了推广。例如，利用激光测距原理测量产品的高度或者产品相对两表面之间的厚度，检验产品尺寸是否符合生产规格。利用激光测距原理测量物体的高度或厚度时，只需要分别测量激光测距仪到物体两个表面的距离，然后计算两个表面到激光测距仪的距离差即可得出物体的高度或厚度测量结果。

在实际生产中，利用激光测距技术判断产品尺寸是否符合规格时，可以测量单一高度产品的高度，也可以测量具有不同高度零件的多零件产品的高度。在现有技术中，当一件待测产品具有多个待测零件，通常会在各个零件表面选取待测点进行测量。如图1所示，对于选取待测点的多个零件高度的测量，一般会采用停顿测量方式进行测量。即，激光测量仪走到一个待测点时，停下测量；当一个待测点测量结束时，再移动到下一个待测点进行测量，如图1所示各点即为停顿测量点10。这种测量方式不仅容易造成误判、漏检，而且在待测点的确定以及测量仪起停过程浪费大量的时间，如待测点数目较多或者对大批量产品进行测量时，则比较费时、费力。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于激光测距的零件高度的测量方法。该方法在测量过程中无需判断待测点位置，不需要停顿逐点测量；在测量结束后，以资料处理的方式找出测量结果。

为达成上述目的，本发明所提供的一种基于激光测距的零件高度的测量方法，包括如下步骤：

(1)激光测距仪匀速沿测量轨迹逐点测量各待测点到该激光测距仪的距离；

(2)在步骤(1)进行的同时，激光测距仪将测量轨迹上各待测点的测量结果连同测量时间一并传送至存储单元，该测量时间为该激光测距仪位移至待测点的时间；

(3)当激光测距仪结束测量时，存储单元将接收到的资料发送至分析单元；

(4)分析单元根据存储单元发送的资料，并结合测量轨迹和各待测点位置，计算出各待测点的高度基准值并对外输出。

其中优选地，所述待测点包括用于计算零件高度基准值的参考点。

其中优选地，所述待测点的高度基准值通过所述待测点与所述参考点到所述激光测距仪的距离差确定。

其中优选地，所述测量轨迹为包括各待测点的任意形状。

如上所述，本发明省去了测量过程中各待测点位置的确定以及激光测距仪在各待测点的起停时间，节约了测量时间，因此尤其适用于大批量同规格产品的高度测量。在测量过程中，只需在测量之前对测量轨迹进行一次设定，直接将依据测量轨迹获得的测量结果图谱进行比对，即可得出产品是否合格的结果，无需准确计算每一单件产品中各零件的具体高度，大大提高了测量效率。

附图说明

图1为现有技术中，测量待检测零件高度时出现的停顿测量点示意图；

图2为本发明所述测量方法的实施流程图；

图3为本发明的一个实施例中待检测高度的零件产品示意图；

图4为本发明的一个实施例中各零件产品的测量顺序示意图；

图5为本发明的一个实施例中所获得的测量结果的示意图。

具体实施方式

为详细说明本发明的技术内容、构造特征、所达成的目的及功效，以下兹例举实施例并配合图式详予说明。

如图2所示，本发明所提供的零件高度的测量方法基于激光测距技术，包括如下的操作步骤：

步骤S10：激光测距仪匀速沿测量轨迹30逐点测量各待测点20到激光测距仪的距离；

步骤S20：在步骤S10进行的同时，激光测距仪将测量轨迹30上各待测点20的测量结果连同测量时间一并传送至存储单元，予以存储，该测量时间为该激光测距仪位移至待测点20的时间；

步骤S30：当激光测距仪结束测量时，存储单元将接收到的资料统一发送至分析单元；

步骤S40：分析单元根据存储单元发送的资料，并结合测量轨迹30和各待测点20位置，计算出各待测点20的高度基准值并对外输出。