[发明专利]用于测量LED封装的光学性质的设备无效
| 申请号： | 201110338190.4 | 申请日： | 2011-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN102544255A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 尹相福;严海龙;权忠焕 | 申请（专利权）人： | 三星LED株式会社 |
| 主分类号： | H01L33/00 | 分类号： | H01L33/00;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种用于测量LED封装的光学性质的设备，包括：光检测单元，用于检测从LED封装阵列的多个LED封装输出的光，以便测量每个LED封装的光学性质；安装单元，用于在测量所述LED封装的光学性质时将LED封装阵列固定于其上；以及电压施加单元，用于在测量所述LED封装的光学性质时将驱动电压施加于LED封装阵列中的各个LED封装。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 led 封装 光学 性质 设备 | ||
【主权项】：
一种用于测量LED封装的光学性质的设备，所述设备包括：光检测单元，用于检测从LED封装阵列的多个LED封装输出的光，以便测量每个LED封装的光学性质；安装单元，用于在测量所述LED封装的光学性质时将所述LED封装阵列固定于其上；以及电压施加单元，用于在测量所述LED封装的光学性质时将驱动电压施加于所述LED封装阵列中的各个LED封装。
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