[发明专利]中红外多波长材料折射率的测量装置及其测量方法

摘要

本发明公开了一种中红外波长材料折射率的测量装置，包括激光二极管、光束整形装置、输入镜、激光晶体、球面高反镜、棱镜对、狭缝、输出耦合镜、法拉第隔离器、半透半反镜、可调光阑、精密旋转台、光谱仪和双通道功率计构成，和一种中红外波长材料折射率的测量方法，实现了待测材料在宽光谱范围内不同中红外波长下折射率的直接测量，解决了目前材料在中红外波长折射率难于测量的问题，同时测量过程简便易行，大大简化了折射率测量过程，降低了测量成本。

主权项

一种中红外波长材料折射率的测量装置，特征在于其构成包括激光二极管（1）、光束整形装置（2）、输入镜（3）、激光晶体（4）、球面高反镜（5）、棱镜对（6）、狭缝（7）、输出耦合镜（8）、法拉第隔离器（9）、半透半反镜（10）、可调光阑（11）、精密旋转台（13）、光谱仪（14）和双通道功率计（15），各元件的连接关系是：沿光路依次是所述的激光二极管（1）、光束整形装置（2）、输入镜（3）、激光晶体（4）和球面高反镜（5），所述的球面高反镜（5）将输入光分为第一反射光束和第一透射光束，第一透射光束进入所述的光谱仪（14），沿第一反射光束光路依次是所述的棱镜对（6）、狭缝（7）、输出耦合镜（8）、法拉第隔离器（9）和半透半反镜（10），所述半透半反镜（10）将其输入光分为第二反射光束和第二透射光束，第二透射光束被所述的双通道功率计（15）的第一探头接收，第二反射光束经所述的可调光阑（11）垂直入射到待测材料（12）上，并沿原路返回，经可调光阑（11）后再次入射到半透半反镜（10）上，半透半反镜（10）将其分为第三反射光束和第三透射光束，第三反射光束被所述的法拉第隔离器（9）隔离，第三透射光束被所述的双通道功率计（15）的第二探头接收。