[发明专利]温度闭环控制装置及测试方法无效
| 申请号： | 201110309956.6 | 申请日： | 2011-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN102393768A | 公开（公告）日： | 2012-03-28 |
| 发明（设计）人： | 李路明;白冰;陈少波;王伟明;郝红伟;李青峰 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G05D23/30 | 分类号： | G05D23/30 |
| 代理公司： | 北京中伟智信专利商标代理事务所 11325 | 代理人： | 张岱 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种温度闭环控制装置，包括夹具、设置在夹具内的至少一个温度传感器、控制装置及执行装置，其中；夹具用于夹持待测电子元器件；温度传感器，与所述控制装置连接，用于测试电子元器件上的温度，并将采集到的温度数据传输至控制装置；控制装置，接收该温度传感器采集到的温度数据，并与预设温度值进行比较，然后根据比较结果向所述执行装置发出控制信号；执行装置，接收控制信号对待测电子元器件进行温度变化操作。本发明所述的温度控制装置对加热器与散热器均可单独控制，利于被控温度的精确调整；温度控制装置、加热器和散热器都位于夹具之外，对于不同封装形式只需将温度传感器装入其工作夹具的空隙中即可使用，不必另行制造夹具。 | ||
| 搜索关键词： | 温度 闭环控制 装置 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种温度闭环控制装置，其特征在于，包括夹具、设置在夹具内的至少一个温度传感器、控制装置及执行装置，其中；夹具，用于夹持待测电子元器件；温度传感器，与所述控制装置连接，用于测试电子元器件上的温度，并将采集到的温度数据传输至控制装置；控制装置，接收该温度传感器采集到的温度数据，并与预设温度值进行比较，然后根据比较结果向所述执行装置发出控制信号；执行装置，接收控制信号对待测电子元器件进行温度变化操作。
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